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价格:电议
所在地:北京
型号:RHA-GSZ-HP-501
更新时间:2017-12-12
浏览次数:1122
公司地址:北京市门头沟石龙经济开发区永安路20号石龙高科大厦
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李冉(女士) 业务员
四探针探头 探头 型号:RHA-GSZ-HP-501

四探针探头是一种专门测量半导体薄层电阻(面电阻)的方块电阻测试仪配用的四探针测试探头,可用于测量一般半导体材料、导电薄膜(ITO透明氧化膜),金属薄膜……等同类物质的薄层电阻。
| ◆ 特性及规格: | ||||||||||
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型号
(Model) |
曲率半径
(Radius) |
压力
(loads) |
探针间距
(spacing) |
探针排列
(Arrangement) |
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GSZ-HP-501
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0.5mm
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100g
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3.8mm
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直线
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多功能激光椭圆偏振仪/椭圆偏振仪 型号:RHA-WJZ-Ⅱ
本仪器以分光计为实验平台,不但可与我厂定型产品配套,还可以与其它厂家生产的仪器配用。技术参数:1、测量透明薄膜厚度范围0-300nm,折射率1.30-2.49 2、起偏器、检偏器、1/4波片刻度范围0°-360°,游标读数0.1°3、测量精度:±2nm.4、入射角ψ=70°,K9玻璃折射率n=1.515.5、消光系数:0,空气折射率1,配有光电探头,检流计.(本型号不含分光计主计)
分光计/分光仪 型号:RHA-JJY-1
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