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瑞典XCounter 双能探测器

大连林帝进出口有限公司

会员指数：

企业认证：

价格：电议

所在地：辽宁大连市

型号：

更新时间：2024-09-23

浏览次数：1572

公司地址：大连市中山区港湾街20号名仕财富A1211号

13504113728 王俊岩(女士) 经理

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产品简介

瑞典XCounter 双能探测器光子计数直接转换能量分辨•XCounter 采用CdTe作为直接转换X射线探测器的转换材料•直接转换X射线探测器具有更好的空间分辨率•可获得更小细节的清晰图像•动态范围大，这对于获取整幅图像

公司简介

林帝进出口有限公司成立于一九九三年，并于一九九八年在德国慕尼黑注册了分公司。公司经营各类产品的进出口业务，经营品种多达六大类数百余种产品。从金属及矿产、建筑材料、机电设备、工艺品、到纺织面料服饰、农副产品和水产品等。同时公司是德国NTB公司的X射线检测成像系统、英国GULMAY X射线高压发生器和控制器、美国Faxitron橱柜式X线系统、比利时印刷公司的印刷设备、英国Relco公司感应封口机的中国代理商。公司本着逐步开拓新领域和新项目，力求实现一业为主，多业发展的态势。

林帝进出口有限公司成立十一年来，坚持"求真务实"的经营理念，加强企业管理，采取“以诚树信，靠质上量”的发展战略，稳步赢得了国内外众多客户的信赖，业务量和效益连年持续翻倍增长，被海关、外汇管理局等部门评为出口创汇A级企业，同时被多家银行评为AA级企业。

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产品说明

瑞典XCounter 双能探测器

光子计数直接转换能量分辨

•XCounter 采用CdTe作为直接转换X射线探测器的转换材料

•直接转换X射线探测器具有更好的空间分辨率

•可获得更小细节的清晰图像

•动态范围大，这对于获取整幅图像非常重要

•光子计数，具有更高的灵敏度，可在非常低的剂量下工作

•采用双能曝光，具有区分材料的能力

双能

• XCounter具有能量分辨能力，可以分辨出不同的材料

• 一次X射线获取，可记录两种不同能量的X射线吸收剂量

• 利用不同组织和骨骼的吸收剂量的不同的特点，可以从图像

中把它们区分出来

• 使得XCounter在医疗和工业领域独具特色

• 独特的卖点

独特的传感器

• FLITE

 0.75mm / 1mm CdTe zui大 225kV

 成像面积 150mm x 25.6mm, 12.8mm, 或 6.4mm

 拼接的探测器

 100 um 像素

 TDS快速扫描

 模块设计，电子器件可再生利用，重组变成一个新的产品，

同样的板子可适用于不同宽度

 板子和板子之间的通讯允许链接

 可对接的，以形成一个区域探测器

 单一的开发库

基础材料

• 一块PCB板，适用于

所有的探测器

• 传感器阵列和PCB之

间灵活连接，可以有

不同的形式（未展示）

串联拼接探测器

• 串联拼接，形成更长的线阵探测器

• 长至1m

产品描述
XC-FLITE FX1、FX2、FX3是直接数字转换、双能采集、光子计数X射线探测器，用于数字X射线成像系统，基于强大的CdTe-CMOS传感器平台研发而成，XC-FLITE X系列适用于潜在宽泛的能量范围。

XC-FLITE X系列可以基于帧率成像，也可以采用时间延迟总和（TDS）模式。

引进反符合技术的双能采集功能，是XC-FLITE FX系列产品的之处，在双能采集过程中，收集到的光子能量分别设置为两个的阈值，并分别读出，两个能量设置可以用来区分材料，为医疗和工业新成像技术开启了大门。反符合技术的引进，可以通过保证将每一个光子信号分布在正确的像素点上，以获取更高的能量分辨率。

集成
XC-FLITE FX系列，通过GigE接口将XC-FLITE FX系列连接到计算机上，自带灵活的软件开发包，可控制所有XC-FLITE FX的功能；可用在Windows XP、Vista、Windows7和Windows8系统平台

应用
*小范围辐照
*小动物成像
*实验室样品和标本成像
*工业检测（NDT）

特点&
*三种尺寸可选
*CdTe-CMOS传感器，高品质成像
*双能采集，具有材料区分能力
*反符合技术，的能量分辨率
*可基于帧率成像，也可以选择时间延迟总和（TDS）模式
*兼容Windows操作系统，从XP到Windows8
*绑定强大的可编程的开发软件

基本参数

物理参数
尺寸（L×W×H）		XC-FLITE FX1：23.1×13.1×6.0 cm XC-FLITE FX2：38.6×13.1×6.5 cm XC-FLITE FX3：54.0×13.1×6.5 cm
温度控制		内部的珀尔帖效应温度控制
环境温度		+10 - +40℃
储藏温度		-10-+60℃ @ 10% to 95% 湿度
射线窗		碳纤维，厚500μm
射线屏蔽		根据应用
传感器
传感器数量		FX1：1 FX2：2 FX3：3
传感器类型		双能光子计数 CdTe-CMOS
传感器厚度		0.75mm-2.0mm CdTe
有效面积		FX1：154.7×12.8mm (1536×128像素) FX2：309.4×12.8mm (3072×128像素) FX3：464.1×12.8mm（4608×128像素）
像素		100μm
像素填充率

性能
帧率		zui高1000 fps（也可选择时间延迟求和模式）
动态范围		12 bits
图像面元		1×1，2×2，4×4
成像时间		100μs-5s
DQE（0） Detective Quantum Efficiency		85%@RQA5 spectra
MTF Modulation Transfer Function		＞80% @ 2lp/mm ＞45% @ 5lp/mm
管KV范围		15-250kVp
内部测试图样		Pseudo-random debug pattern
外部触发输出		3.3V TTL
输入		5V
滞后		0%
拖影		＜0.1% X射线开启后1分钟，（12μGy）

分辨率和DQE曲线（反符合开CC on和闭CC off）

产品描述：PDT25-DE
紧凑型、直接数字转换、双能采集、光子计数X射线探测器，用于数字X射线成像系统，基于强大的CdTe-CMOS传感器平台研发而成，PDT25-DE是一个小视场探测器，适用于潜在宽泛的能量范围。

PDT25-DE可以基于帧率成像，也可以采用时间延迟总和（TDS）模式。

引进反符合技术的双能采集功能，是PDT25-DE之处，在双能采集过程中，探测到的光子能量分别设置为两个的阈值，并分别读出，两个能量设置可以用来区分材料，为医疗和工业新成像技术开启了大门。采用反符合技术，可以确保将每一个光子信号分布在正确的像素点上，以获取更高的能量分辨率。

集成
通过高速率USB接口将PDT25-DE连接到计算机上，自带灵活的软件开发包，可控制所有PDT25-DE的功能；可用在Windows XP、Vista 、Windows7和Windows8系统平台上。

应用
*小范围辐照
*小动物成像
*实验室样品和标本成像
*反向散射成像
*工业检测（NDT）

特点和
*CdTe-CMOS传感器，高品质成像
*双能采集，具有材料区分能力
*反符合技术，的能量分辨率
*可基于帧率成像，也可以选择时间延迟总和（TDS）模式
*兼容Windows操作系统，从XP到Windows8
*绑定强大的可编程的开发软件

技术参数

物理参数
尺寸（L×W×H）		94×54×20mm
重量		150g（235g 带钨防护）
温度控制		内部的珀尔帖效应温度控制
环境温度		+15 - +45℃
储藏温度		-10 - +50℃ @ 10% -95% 湿度
zui大消耗功率		10W
射线窗		碳纤维，厚250μm
射线屏蔽		根据应用

传感器
传感器类型		双能光子计数 CdTe-CMOS
传感器厚度		0.75mm-2.0mm CdTe
有效面积		25.6×25.6 mm2
像素		100μm
像素填充率

性能
帧率		zui高35fps
动态范围		12 bits
成像时间		100μs-5s （通过软件，可以设置更长时间）
DQE（0） Detective Quantum Efficiency		85%@RQA5 spectra
MTF Modulation Transfer Function		＞80% @ 2lp/mm ＞45% @ 5lp/mm
管KV范围		15-140 kVp
内部测试图样		Pseudo-random debug pattern
外部触发输出		3-3 V TTL
输入		3-15V
滞后		0%
拖影		＜0.1% X射线开启后1分钟（12μGy）

分辨率和DQE曲线（反符合开CC on和闭CC off）

产品描述
XC-FLITE X1、X2、X3是直接数字转换、自扫描、双能采集、光子计数X射线探测器，用于数字X射线成像系统，基于强大的CdTe-CMOS传感器平台研发而成，XC-FLITE X系列适用于潜在宽泛的能量范围。

XC-FLITE X系列可以基于帧率成像，也可以采用时间延迟总和（TDS）模式，扫描速度zui高90mm/s。

引进反符合技术的双能采集功能，是XC-FLITE X系列产品的之处，在双能采集过程中，收集到的光子能量分别设置为两个的阈值，并分别读出，两个能量设置可以用来区分材料，为医疗和工业新成像技术开启了大门。反符合技术的引进，可以通过保证将每一个光子信号分布在正确的像素点上，以获取更高的能量分辨率。

所有精心设计的运动部件需要在XC-FLITE X系列的内部自动控制，整个扫描过程是透明可见的。

集成
XC-FLITE X系列，通过GigE接口将XC-FLITE X系列连接到计算机上，自带灵活的软件开发包，可控制所有XC-FLITE X的功能；可用在Windows XP、Vista、 Windows7和Windows8系统平台

应用
*小范围辐照
*小动物成像
*实验室样品和标本成像
*工业检测（NDT）

特点&
*三种尺寸可选
*CdTe-CMOS传感器，高品质成像
*自扫描设计，透明可见
*双能采集，具有材料区分能力
*反符合技术，的能量分辨率
*可基于帧率成像，也可以选择时间延迟总和（TDS）模式
*扫描速度zui高90mm/s
*兼容Windows操作系统，从XP到Windows8
*绑定强大的可编程的开发软件

技术参数单
基本参数

物理参数
尺寸（L×W×H）		XC-FLITE X1：32.9×22.0×5.5cm XC- FLITE X2：54.2×40.2×8.7cm XC-FLITE X3：63.0×57.1×8.5cm
温度控制		内部的珀尔帖效应温度控制
环境温度		+10 - +40℃
储藏温度		-10-+60℃ @ 10% - 95% 湿度
射线窗		碳纤维，厚500μm
射线屏蔽		根据应用
传感器
传感器数量		X1：1 X2：2 X3：3
传感器类型		双能光子计数 CdTe-CMOS
传感器厚度		0.75mm-2.0mm CdTe
有效面积		X1：154.7×12.8mm(1536×128像素) X2：309.4×12.8mm(3072×128像素) X3：464.1×12.8mm（4608×128像素）
像素		100μm
像素填充率
性能
zui大扫描速度		X1：90 mm/s X2 & X3：255 mm/s
帧率		zui高1000 fps （也可选择时间延迟总和模式）
动态范围		12 bits
图像面元		1×1，2×2， 4×4
成像时间		100μs-5s
DQE（0） Detective Quantum Efficiency		85%@RQA5 spectra
MTF Modulation Transfer Function		＞80% @ 2lp/mm ＞45% @ 5lp/mm
管KV范围		15-250kVp
内部测试图样		Pseudo-random debug pattern
外部触发输出		3.3V TTL
输入		5V
滞后		0%
拖影		＜0.1% X射线开启后1分钟，（12μGy）