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变频抗干扰介质损耗测试仪型号:M322897库号：M322897产品概述介质损耗测试仪是一种新缘测试仪，采用LCD汉字显示界面，全部操
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产品说明
变频抗干扰介质损耗测试仪 型号:M322897
产品概述
介质损耗测试仪是一种新缘测试仪，采用LCD汉字显示界面，全部操作由中文菜单给予提示，仪器配备了面板打印机并能存储500次的测量数据，即使关闭电源数据亦不会丢失。当采用反接法测量时，由光纤传递信号，隔离高压、工作安全。仪器内部采用微机进行信息与数据处理，自动选择测量量程，测量精度高，采用变频技术抗外电场干扰性能好，升压过程突然断电不会引起过电压。操作简单，使用方便。
产品特性
1．测试式作方式：正接法测量，反接法测量。
2．仪器高压输出：0.5KV-10KV(每1KV一档) 3．电容测量范围：Cx=30pF-40000PF，分辨率：0.1PF 误差：10KV时≤2000PF，2KV时≤60000PF，读数×±1.0%±1PF 4．介质损耗因素测量范围：tgδ：0.1%-10%,分辨率：0.0001 误差:读数×±1.0%±0.08% 5．频率输出：45HZ、50HZ、55HZ、55/65HZ、60HZ、65HZ 6．仪器为一体化结构：重量20Kg 7．体积：470*370*410
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