涂层测厚仪

产品应用：配備手動或可編程位置的X-Ray螢光光譜鍍層厚度測量儀，適合於裝飾性小五金鍍層、大量小零件及電路板中的非破壞厚度測量。产品介绍：FISCHERSC

 昆山博恩思达仪器设备有限公司专业经营各种常规及专用实验室分析仪器、实验设备和国内外工业检测仪器。是目前国内具有较大影响力和营业规模的集研发、生产、代理销售、技术服务等一体的高科技企业。公司至力为化工、医药、农药、生命科学、农业、厂矿医院以及高校、院所、技术监督、检验检疫、卫生等系统实验室提供全系列优质产品销售、维修、分析技术咨询、仪器操作培训等“一站式”服务。
    “我们提供的不仅是产品，我们基于专业的基础上为你提供解决方式和服务。”多年来我们的团队在服务于国内各行业仪器及设备用户，建立了广泛的销售网络，积累了丰富的技术服务经验，成为多个著名品牌的国内一级销售代理商和售后服务网点。我们的目标是“做最好的科学仪器服务商”
     昆山博恩思达仪器设备有限作为上海精密、上海欧华ohua、上海灵华、中科院兰化所、浙大智能、大连依利特elite、天津恒奥、天津奥特赛恩斯、天津拓普、Hitech-Kflow、，美国Brookfield、美国安捷伦Agilent、美国戴安Dionex、美国热电Themo、德国sartorius、德国IKA、日本Olympus、日本ATAGO、日本Shimazdu、日本AND、日本Daicel、日本Shodex、日本TSK、瑞士Metrohm、德国IKA等多个品牌的授权分销代理或特约经销商，我们希望不论是在所提供的产品的质量和数量上，还是在公司的规模、技术和经济实力上，都能做到处于行业的领先地位；我们拥有充满活力的高质素的销售团队、具有丰富仪器技术和应用知识的技术支持团队和技术全面、经验丰富的售后服务团队。希望所有这一切都能为广大忠实用户的企业发展贡献出一份力量。

产品应用：配備手動或可編程位置的X-Ray螢光光譜鍍層厚度測量儀，適合於裝飾性小五金鍍層、大量小零件及電路板中的非破壞厚度測量。

产品介绍：

FISCHERSCOPE X-RAY XDL 系63900;是十分簡63968;操作的桌面式測63870;儀器，因應63847;同的測63870;需要，有63847;同的型號可供選擇，分別是在於63847;同的操控的X-Y測63870;桌及Z軸﹝測63870;頭的上下移動﹞是固定或是可調節的。
XDL 210: 固定的X/Y桌及固定 Z-軸
XDL 220: 固定的X/Y桌及電動的Z-軸
XDL 230: 手動操控的X/Y 桌及電動的Z-軸
XDL 240: 電動的X/Y 桌可以在測63870;門打開時變速移動X/Y 桌出63789;給操作員放置樣品及關閉測63870;門時移動X/Y 桌變速返回到測63870;位置。
高解像彩色攝影機配合強大的放大倍63849;功能使樣品的對位十分容63968;及在測63870;中也可以監視測63870;的位置。如型號配備63930;可編測63870;位置的儀器63745;有63817;射對位裝置63789;63745;快速及準確對準樣品的位置測63870;。
開槽式的測63870;室設計，這可使大塊及平坦的樣品，比測63870;室還大的，63925;如：電63799;板，也可以測63870;。
在整體操作上，在簡63968;操作及強大功能的電腦WinFTM®軟件下，所有的測63870;63849;據的統計可以十分清楚地表達出63789;。
XDL系63900;的光譜的儀器，符合德國的出口規定 8222;Deutsche Röntgenverordnung-RöV“

通常應用的程式包括：
1、 測63870;大63870;的電鍍五63754;件。
2、 檢查薄膜層，63925;如：裝飾性鉻的鍍層。
3、 在電子及半導體64008;業中分析其功能性的鍍層。
4、 自動測63870;，63925;如：用於電63799;板64008;業。
5、 電鍍槽中的藥水成份分析

相关技术参数

一般技術規格
使用的範圍	能63870;散佈式的 x-射線光譜儀 (EDXRF) 用於測63870;薄膜鍍層的厚64001;及電鍍藥水中的成份分析。
元素範圍	氯Cl (17) to 鈾U (92)，同時檢測多至5個元素，在使用另選購WinFTMBASIC軟件時，63845;可以同時檢測多至24個元素。
設計	桌面式測63870;儀器，測63870;室門向上打開
測63870;方向	由上向下
X-射線源
X-射線源	鎢靶及鈹窗口的X-射線管
高壓	可調節 30 kV, 40 kV, 50 kV
光束大小 (準直器)	Ø 0.3 mm (選配 Ø 0.1 mm, Ø 0.2 mm, 長方形 0.3 mm x 0.05 mm)
測63870;點	實際的測63870;點大小是受測63870;距63978;及準直器的大小影響的，及會在測63870;位置的圖像顯示出63789;。zui小的測63870;點大小為約 Ø 0.2 mm
測63870;距63978;	0 ... 20 mm, 使用專63965;的 DCM 方法於已校正範圍
X-ray 接收
X-ray 接收器	比63925;計算器
樣品的定位
影像鏡頭	用高解像的CCD 彩色攝影機63789;監視測63870;位置，影像的攝影是與基本X-射線光束在相同的軸上，在對焦方面可作手動或自動對焦，對位的十字線是可以調校其刻64001;及測63870;點的大小，而且可以調節照明用的發光二極管的光63863;64001;。
放大倍63849;	20x ... 180x (光學： 20x … 45x; 63849;碼： 1x, 2x, 3x, 4x)
樣品的測63870;桌	XDL 210	XDL 220	XDL 230
測63870;台設計	固定位置	固定位置	手動 X/Y-軸
zui大64008;程 X/Y	-	-	95 x 150 mm
移動速64001; X/Y	-	-	-
位置重複性 X/Y	-	-	-
可使用的測63870;台可移動面積	463 x 500 mm	463 x 500 mm	420 x 450 mm
Z-軸	固定位置 (高/中/低)	電動調節	電動調節
移動 Z-軸	-	140 mm	140 mm
zui大的樣品質63870;	20 kg	20 kg	20 kg
zui大的樣品高64001;	155/90/25 mm	140 mm	140 mm
63817;射指示燈標示樣品測63870;位置	-	-	有
電源要求
電壓、頻63841;	AC 115 VAC 230 V 50 / 60 Hz
耗電功63841;	zui大 120 W (63847;包括電腦部分)
防護級別	IP40
尺寸
外圍尺寸	闊 x 深 x 高 [mm]: 570 x 760 x 650
重63870;	XDL 210: 90 kg; XDL 220: 95 kg; XDL 230: 105 kg; XDL 240: 120 kg
內部測63870;室尺寸	闊 x 深 x 高[mm]: 460 x 495 x (64010;zui高樣品高64001;)
環境條件
溫64001;：工作	10 °C – 40 °C / 50 °F – 104 °F
溫64001;：儲存/運輸	0 °C – 50 °C / 32 °F – 122 °F
環境濕64001;	≤ 95 %, 63847;凝結
計算器
電腦	PC 系統附帶擴充插板
軟件	基本： Fischer WinFTMLIGHT 另購： Fischer WinFTMBASIC, PDM, SUPE
標準
CE 符合	EN 61010
X-ray 標準	DIN ISO 3497 及 ASTM B 568
認可	符合德國國家規則8222;Deutsche Röntgenverordnung-RöV“中的型號安全規定

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