MiniTest600系列提供多种校准方法来满足各种应用场合和工业标准。如果创建了一个批组，您就可以为这个批组选择一种合适的校准方法。在测量模式下，你可以在创建批组后立即进行校准，也可以迟些时候进行校准。按下功能键CAL，即可在测量模式下调出校准功能。

校准须在当前激活的批组内进行，并直接和批组相关。

为了确保做到合适的校准，我们应注意以下几个问题：

 对精que的测量而言,正确的校准是非常重要的。用于校准的样品和实际被测工件应该具有一样的形状。原则上，用于校准的样品和实际被测工件越一致，校准也就越精que，测量读值也越精que。 

 确保用于校准的样品和实际被测工件具有相同的特性，例如：

——相同的曲率半径

——相同的底材(例如都具有相同的导磁率，电导率;理想的状态是，它们都是同一种材料）

——相同的底材厚度

——测量区域尺寸一致

●开始校准前，确保校准区域，探头和零板都是清洁的。任何表面的杂质都可能影响到准的准确性和稳定性。

●确保校准区域和实际被测区域是一样的，尤其在测量小工件或工件的边角时需如此。

●校准时需远离强磁场。

●校准时选用的标准箔片厚度应和实际被测工件的涂镀层厚度尽量一致

●如果使用标准箔片,确保它们是被平放在底材上。应尽量避免标准箔片和底材间留有空隙。

请注意：

如果在校准过程中由于电池没电而导致关机，那么，在换上新电池后，将会继续先请前的校准过程。

一、校准方式

根据您的任务设置，您可能会用到不同的校准方法。测量精度取决于您选择的校准方法。

1一点校准(仅校准零点)

“Z”显示在状态栏

 校准点：零点(直接在基材上进行)

校准仅在无涂层的样品上进行。仅在基材上进行一点校准，即校零。

零点校淮适用于快速校准,只需中等精度的情况。

2两点校准

“Z 1”显示在状态栏

校准点：零点(直接在基材上进行)和一片

标准箔片

校准在无涂层的样品上进行。先是零点校准，然后把一片标准箔片放在样品上进行校准。

和零点校准相比,两点校准意味着高的精度。如果标准箔片的厚度与实际被测的涂层厚度相近，精度将会高。

二、如何校准

在测量模式下，按功能键CAL进入校准模式。

1校准FN探头

如果在一个批组中已经设定了测量方法为“AUTO-F/N”，您就可以针对铁基和非铁基进行校准。校准程序将会被执行两次。您需要选择先要校准的底材，用上下键选到该底材上，按OK键确认。校准完成后，您需要选择下一个要校准的底材，用上下键选到该底材上，按OK键确认。在此之后，您将又被要求选择底材。如果已经完成了对两种底材的校准，您就可以按ESC键退出校准。此时，仪器将重新回到测量模式。

2一点校准（仅校准零点）

按压CAL键开始校准，并把探头放在无涂层的样品上。当听到“滴”声后抬起探头。

在同样的测量点上重复此操作3-10次，平均值将会显示在屏幕上。精度将会随着测量次数的增加而增加。按OK键确认零点校准。再按一次OK键确认完成校准程序。

此时仪器将要求您再一片标准箔片上校准。按OK键跳过此步骤。

3两点校准

先按提示完成零点校准。

之后，按照提示把一片标准箔片放在样品上，然后用探头进行测量。当听到“滴”声后抬起探头，在同一点重复测量3-10次，平均值将会显示在屏幕上。

如果此时测量得到的厚度值和标准箔片的厚度值不一致，使用上下键将数值调成与标准箔片的厚度值一致。

按OK键存储校准数值，再按一次OK键完成校准。

目录列表将显示哪些点您已经校准过了。按OK键，您将回到测量模式。在自动F/N校准中您将回到基材选择模式。