德国卡尔德意志（德国KD）LEPTOSKOP2042涂层测厚仪

EPTOSKOP2042涂层测厚仪简介：
  LEPTOSKOP2042涂层测厚仪具有的测量技术和简单的操作方法，是的涂层测厚仪。通过解锁代码，可以使仪器在现场迅速的升级。
  LEPTOSKOP2042涂层测厚仪 利用磁感应法(DIN EN ISO 2178)测量铁磁基体上的非铁磁层的厚度并且利用涡流法(DIN EN ISO 2360)测量非铁磁材料上覆盖的非导电层厚。
  仪器将一种把测厚值显示为模拟指针的工具和近似WINDOWS一样的文件管理系统相结合，同时提供10种可供任意选择的语言，以满足客户的各种需求。
  LEPTOSKOP2042涂层测厚仪是一种经济的产品，电池寿命长，可以连续工作100小时以上。仪器记录工作时间和测量数量，因此一些重要的参数可以被保存。
  彩色的橡胶皮套也是在供货范围内，可以保护仪器在工业环境中意外滑落不受损害。
LEPTOSKOP2042技术参数：
        数据传输接口RS232 或 USB
  电源：电池、充电电池、USB或外接电源
  测量范围: 0 - 20000 um (取决于探头)
  测量速度: 每秒测量2个数值
  存储: 多 9999 个数值，140个文件
  误差:
  涂层厚度 < 100 um: 1% 读数 +/- 1 um (校准后)
  涂层厚度 > 100 um: 1-3% 读数 +/- 1 um
  涂层厚度 > 1000 um: 3-5% 读数 +/- 10 um
  涂层厚度 > 10000 um: 5% 读数 +/- 100 um
 
LEPTOSKOP2042涂层测厚仪附件：
  试块和膜片
  探头定位装置 (适用于微型探头)
  定位辅助装置 (适用于微型探头)
  电脑软件 STATWIN 2002 用于数据传输和对整个目录结构的便捷管理
 
  电脑软件 EasyExport 用于把单独的读数或全部文件传输到Windows
技术参数：
 
  ◆ 数据传输接口RS232 或 USB
  ◆ 电源：电池、充电电池、USB或外接电源
  ◆ 测量范围: 0 - 20000 um (取决于探头)
  ◆ 测量速度: 每秒测量2个数值
  ◆ 存储: 多 9999 个数值，140个文件
  ◆ 误差:
  涂层厚度 < 100 um: 1% 读数 +/- 1 um (校准后)
  涂层厚度 > 100 um: 1-3% 读数 +/- 1 um
  涂层厚度 > 1000 um: 3-5% 读数 +/- 10 um
  涂层厚度 > 10000 um: 5% 读数 +/- 100 um
  LEPTOSKOP2042涂层测厚仪附件：
  试块和膜片
  探头定位装置 (适用于微型探头)
  定位辅助装置 (适用于微型探头)
  电脑软件 STATWIN 2002 用于数据传输和对整个目录结构的便捷管理
  电脑软件 EasyExport 用于把单独的读数或全部文件传输到Windows