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3330型光学颗粒物粒径谱仪美国TSI

日期:2018-01-25    点击:222    查看原图
简介:









 
图库说明

仪器简介:
3330型光学颗粒物粒径谱仪简单轻便,能够对颗粒物浓度和粒径谱分布进行快速和准确的测量。基于TSI40年气溶胶仪器设计的经验,本款产品使用120度光散射角收集散射光强度和的电子处理系统,从而得到高质量和的数据。同时,TSI工厂严格的标定标准也确保仪器的性。3330不仅可以单独使用,而且还可以放入TSI的外场环境箱中在野外使用。


技术参数:

测量原则 

120°光散射和滤膜采样

 

浓度限制

zui高3000个/ cm(3000000个/L)

 

质量浓度 

0.001-275000 mg/m3

 

颗粒物粒径

检测粒径范围               0.3-10 mm 

粒径分辨率                 0.5mm时5%(符合ISO 21501-01/04)

粒径通道                   多16通道,用户可调

 



主要特点:

l  0.5微米时粒径分辨率小于5%

l  粒径通道用户可调

l  检测粒径范围:0.3-10微米,多16通道

l  颗粒物粒径感应范围:0.5至25 mm

l  检测浓度范围:0-3000 个 /cm3

l  彩色触摸屏,直观的用户界面

l  完全满足ISO 21501-01/04要求

l  输入折射率和密度可以同时显示颗粒物数浓度和质量浓度

l  收集的采样膜可进行称重测量和化学分析

l  电池电量可供20小时的操作

l  多可存储30000个数据

l  记录每个样品的温度和压力

 
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