CMI900 是一款性价比极高的台式 X 射线荧光光谱仪，应用于涂镀层厚度测量及材料成分分析。
- 涂镀层厚度测量和/或成分分析，元素范围 Ti - U
- 可同时进行多达15层元素成分分析
- 测量方法符合ISO 3497，ASTM B568和DIN 50987
- 应用
- 多镀层金属厚度测量
- 合金鉴定及化学分析
- 电镀液分析
- 金成色分析
- 特点
- 标准50瓦微焦X射线管
- 计数率增加，精度提高
- 可升级75瓦光管
- 多准直器
- 计数率和光斑尺寸之间的最佳平衡
- 镭射聚焦
- 改善系统再现性（消除人为干扰）
- 标准FP软件包
- 综合应用模式
- 简单校准
- 开槽式设计样品台，自动寻找适合所设定焦距的Z轴坐标
- 提供中文等7种语言界面
- 规格
- X射线激发
- 50 瓦微聚焦钨靶 X 射线管
- 探测器
- 氙气填充的正比计数器
- 数字脉冲处理
- 4096 多道数据分析功能
- 自动信号处理，包括死时间修正
- 计算机
- 奔腾 D，3.0 GHz，160 Gb 硬盘，512Mb 内存，MicrosoftTM XP 系统 **同等配置或更好
- 电源
- 85~130 或 215~265 伏， 频率范围：47Hz - 63Hz
- 工作环境
- 50°F （10°C） - 104°F （40°C） ，相对湿度达98%，非凝固状态
- 工作台行程（XYZ 轴可调节）
- 6" x 7" x 1.9" （15.2cm x 17.8cm x 4.8cm）
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