应急灯产品老化测试系统

 老化就是通过让半导体进行超负荷工作而使缺陷在短时间内出现，避免在使用早期发生故障。在半导体业界，器件的老化问题一直存在各种争论。半导体随时可能因为各种原因而出现故障，如果不经过老化，很多半导体成品由于器件和制造工艺复杂性等原因在使用中会产生很多问题。在开始使用后的几小时到几天之内出现的缺陷称为早期故障，老化之后的器件基本上要求100%通过这段时间。准确确定老化时间的方法是参照以前收集到的老化故障及故障分析统计数据。

本系统基于应急灯产品的自动化煲机测试，和测试数据可保存追溯，以提高产品的质量.
煲机位置有地址码，被测产品可与之对应。
检测产品工作状态：冲电状态、放电状态、指示灯状态等

控制产品电源的ON/OFF

每工位需有信号指示状态，测量工位状态和被测产品的状态。
系统软件可编辑煲机参数并分类保存。
每个工位可单独控制煲机流程。
记录煲机结果。
电池电压检测。