SX1934B 数字式四探针测试计

数字式四探针测试计  型号：SX1934B

数字式四探针测试计 特点
仪器由主机、测试探头（可选配测试台）等分组成，测试结果由数字表头直接显示。主机主要由数控恒流源，分辨率ADC、嵌入式单片机系统组成，自动转换量程。测试探头分子材料和耐磨碳化钨探针制成，故定位、游移率小、寿命长。仪器具有测量度、灵敏度、稳定性好、智能化程度、测量简便、结构紧凑、使用方便等特点。
数字式四探针测试计 测量范围 电阻率：10-2～102Ω-cm；方块电阻：10-1～103Ω/□；电阻：10-3～9999Ω
可测半导体材料尺寸 直径：Φ15～100mm； 长（或）度： ≤400mm
电源
耗：<1W； 电源适配器：输入:220V±10% 50Hz； 输出:DC5V±10%
外形尺寸 主机 170mm（D）×130 mm（W）×50mm（H）