WBLE-200J电磁式薄膜测厚仪/膜厚计日本

产品/服务：WBLE-200J电磁式薄膜测厚仪/膜厚计日本
型号：WBLE-200J
单价：面议
更新日期：2018-04-17
有效期至：长期有效
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产品简介

电磁式薄膜测厚仪/膜厚计日本型号：WBLE-200J 货号：ZH6918 产品简介 ...

产品详细介绍

电磁式薄膜测厚仪/膜厚计日本
型号：WBLE-200J

货号：ZH6918

产品简介
　本仪器采用了磁性测厚方法，可的测量磁性金属基体（如铁、合金和硬磁性钢等）上非磁性覆层的厚度（如铜、铝、铬、珐琅、橡胶、油漆等）。内置打印机，可打印数据，有四个统计功能。
测定方法:电磁式
测定对象:磁性金属上非磁性涂镀层
测定范围:0～1500um或0～60.0mils
测定精度:<15um±0.3um >15um±2%
分辨率:<100um 0.1um >100um 1um
界限设定:可设定上/下限数值
测试单位:公/英制互换
显示方式:LCD数显
操作面板:密封水按键
附属品:铁基体/校正标准片/电池/皮套/说明书
电源:DV3V 主机5#碱性电池×6个打印机5#碱性电池×4个
体积:80(W)×80(D)×30(H)
重量:1100g
www.ghitest.com
www.centrwin.com

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