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数显薄膜测厚仪/薄膜测厚仪型号：DP-CH-12.7-STSX 概述

日期：2017-03-21 点击：145 返回列表

数显薄膜测厚仪/薄膜测厚仪型号：DP-CH-12.7-STSX
分度值：0.001mm
测

详细信息

数显薄膜测厚仪/薄膜测厚仪型号：DP-CH-12.7-STSX

分度值：0.001mm

测量范围及准确度：0mm～12.7mm，≤0.005mm

适用于实验室对塑料薄膜和薄片试样厚度的测定（zui大测量深度为80mm）

GB/T6672-1986 MOD ISO 4593-1979