北京北信创展自动化有限公司

原子力显微镜（Atomic force microscopy）是一种以物理学原理为基础，通过扫描探针与样品表面原子相互作用而成像的表面分析仪器。一般原子力显微镜利用探针对样品扫描，探针固定在对探针与样品表面作用力敏感的微悬臂上。悬臂受力偏折会引起由激光源发出的激光束经悬臂反射后发生位移。检测器接受反射光，后接受信号经过计算机系统采集、处理、形成样品表面形貌图像。  
产品特点：
计算机全数字化控制，操作简捷直观。  
步进马达自动进行针尖－－样品逼近，保证实验圆满成功。  
深度陡度测量，三维显示。  
纳米材料粗糙度测量、颗粒径度测量及分布统计。  
Ｘ、Ｙ二维样品移动平台，快速搜索样品区域．  
标准RS232串行接口,无需任何计算机卡  
样品观测范围从0.001um-20000um。  
扫描速度达40000点/秒  
可选配纳米刻蚀功能模块。  
技术指标:  
AFM探头  
样品尺寸：直径小等于30mm；厚度小等于15mm。  
XYzui大扫描范围：标准6X6微米  
0.25nm  
0.03nm(云母定标)  
XY二维样品移动范围：５mm；精度0.5微米  
扫描器、针尖座智能识别  
44-283X连续变倍彩色CCD显微观察系统(选配)  
AFM电化学针尖块，液电池，液体轻敲式成像功能（选配）  
全金属屏蔽防震隔音箱/隔震平台（选购）