DLFA-1000型激光导热仪

DLFA-1000型激光导热仪测量热扩散系数、热导率和比热。可同时测量3个/6个/18个样品，D并可提供三个可更换炉体，可测温度范围从-125—2800℃。 可选择多种不同样品支架，分别适用于固体、液体、熔融物和熔渣等材料。紧凑的设计使硬件与电子元件可分离，安装外罩即可适用于核应用。

北京精科智创科技发展有限公司是一家主要是从事精密仪器设备，我们同中国科学院，北京科技大学，清华大学，上海交通大学，北京航空航天大学等建立了合作和研究中心，目前我们主要在安全控制设备，计量检测设备，科学材料研究设备，3D打印及空间技术的研发和销售，我们将同国内的科研机构和高等院校进行更加广泛的合作，服务于国内和国外广大客户，我们将提供优质产品，优质服务，共同开拓进取。

我们为你提供材料表征测量的一系列产品：

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一表征：压电材料d33测量仪
1、ZJ-3型压电测量仪

2、ZJ-4型d33测量仪

3、ZJ-5型积层压电测试仪

4、ZJ-6型静压电d33/d31/d15测量仪

5、ZJ-7型高温压电测试仪

★压电极化装置

1、PZT-JH10/4压电极化装置（10KV以下压电陶瓷同时极化1-4片）

2、PZT-JH10/8压电极化装置（10KV以下压电陶瓷同时极化1-8片）

3、PZT-JH20/8高压电极化装置（20KV以下压电陶瓷同时极化1-8片）

4、PZT-FJH20  /3高压真空，空气极化装置（20KV以下压电陶瓷及压电薄膜1-3片试样）

★ 压电制样装置

1、ZJ-D33-YP15压电陶瓷压片机（压力范围: 0--15T，0-24T，0-30T，0-40T2

2、ZJ-D33-SYP30电动型压电陶瓷压片机（压力范围: 0--15T，0-24T，0-30T，0-40T）

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第二表征 铁电材料测量系统及电滞回线测量系统

1、ZT-4C型综合铁电测量系统

2、JKZT-10A铁电材料综合参数测试仪

3、JKGT-G300高温铁电材料测量系统

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第三表征 热电材料分析测量系统及塞贝克系数测试仪

1、BKTEM-Dx热电性能分析系统

2、BKTEM-Dx热电器件性能分析系统

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第四表征 介电材料测试系统

1、 常温介电测量系统，常温介电材料测试仪

2、 高温介电测量系统，高温介电材料测试装置

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第四表征磁性材料测试系统

DLFA-1000型激光导热仪

关键词：激光导热，脉冲胶装，热损校正

 

DLFA-1000型激光导热仪测量热扩散系数、热导率和比热。可同时测量3个/6个/18个样品，D并可提供三个可更换炉体，可测温度范围从-125—2800℃。 

可选择多种不同样品支架，分别适用于固体、液体、熔融物和熔渣等材料。紧凑的设计使硬件与电子元件可分离，安装外罩即可适用于核应用。

所有的LINSEIS热分析设备均由PC控制，各个软件模块仅在Microsoft®Windows®操作系统上运行。整个软件由3个模块组成：温度控制、数据采集和数据评估。与其他热分析系统一样，LINSEIS 32位软件也具有测量准备、执行和评估的所有基本功能。

 

LFA特点

精脉冲校正

热损修正

2层或3层结构样品测量模式

评估模型向导

比热测定

多层系统中的接触电阻测定

评估软件

相关测量数据可自动或手动输入（密度、比热）

模型向导：选择合适的模型

脉冲校正

热损校正

多层模型

接触电阻的测定

比较法测定Cp（比热）

测量软件

简单和友好的数据输入界面：温度段，气体等

可控自动进样器

软件自动显示能量脉冲后的测量校正。

多样本全自动测量程序

 

型号	DLFA -1000
温度范围	-125 ℃/ -100 ℃ 至 500℃ RT 至 1250°C RT 至 1600°C
脉冲源Nd	Ng:YAG Laser 25 J/次
温度测量	无接触红外探测器 (InSb or MCT)
热扩散系数测量范围	0.01 mm2/s 至 1000 mm2/s
热导率测量范围	0.1 W/m·k 至2000 W/m·K
样品尺寸	∅ 3, 6, 10, 12.7 … 25.4 mm， 方形样品 10×10 或 20x 20 mm
样品厚度	最大可测 6 mm
可测样品量	自动进样器：3， 6或 18样品量
样品支架	金属/SiC/石墨
液体样品支架	可选
气氛	惰性、氧化、还原、真空
加热速率	0.01 至20 K
数据采集速率	2 MHz
接口	USB

 

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