BKZEM-3电阻率/温差电动势测试系统

BKZEM-3电阻率/温差电动势测试系统关键词：塞贝克系数，半导体，热电材料BKZEM-3电阻率/温差电动势测试系统可用于对于半导体，陶瓷材料，金属材料等多种材料的热电性能分析。

北京精科智创科技发展有限公司是一家主要是从事精密仪器设备，我们同中国科学院，北京科技大学，清华大学，上海交通大学，北京航空航天大学等建立了合作和研究中心，目前我们主要在安全控制设备，计量检测设备，科学材料研究设备，3D打印及空间技术的研发和销售，我们将同国内的科研机构和高等院校进行更加广泛的合作，服务于国内和国外广大客户，我们将提供优质产品，优质服务，共同开拓进取。

我们为你提供材料表征测量的一系列产品：

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一表征：压电材料d33测量仪
1、ZJ-3型压电测量仪

2、ZJ-4型d33测量仪

3、ZJ-5型积层压电测试仪

4、ZJ-6型静压电d33/d31/d15测量仪

5、ZJ-7型高温压电测试仪

★压电极化装置

1、PZT-JH10/4压电极化装置（10KV以下压电陶瓷同时极化1-4片）

2、PZT-JH10/8压电极化装置（10KV以下压电陶瓷同时极化1-8片）

3、PZT-JH20/8高压电极化装置（20KV以下压电陶瓷同时极化1-8片）

4、PZT-FJH20  /3高压真空，空气极化装置（20KV以下压电陶瓷及压电薄膜1-3片试样）

★ 压电制样装置

1、ZJ-D33-YP15压电陶瓷压片机（压力范围: 0--15T，0-24T，0-30T，0-40T2

2、ZJ-D33-SYP30电动型压电陶瓷压片机（压力范围: 0--15T，0-24T，0-30T，0-40T）

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第二表征 铁电材料测量系统及电滞回线测量系统

1、ZT-4C型综合铁电测量系统

2、JKZT-10A铁电材料综合参数测试仪

3、JKGT-G300高温铁电材料测量系统

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第三表征 热电材料分析测量系统及塞贝克系数测试仪

1、BKTEM-Dx热电性能分析系统

2、BKTEM-Dx热电器件性能分析系统

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第四表征 介电材料测试系统

1、 常温介电测量系统，常温介电材料测试仪

2、 高温介电测量系统，高温介电材料测试装置

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第四表征磁性材料测试系统

BKZEM-3电阻率/温差电动势测试系统 关键词：塞贝克系数，半导体，热电材料 BKZEM-3电阻率/温差电动势测试系统可用于对于半导体，陶瓷材料，金属材料等多种材料的热电性能分析。

热力发电是一种通过热电效应材料产生电力的方法，由J.T.Seebeck德国物理学家在1821年发现的。面对当前的全球由二氧化碳排放以及化学材料消耗而导致的温室效应，热电转变器件引起了注意，因为可以有效利用余热。为了迎合这种急迫的需求公司为这些材料和器件开发了特性评估装置。

+  拥有温度精确控制的红外金面加热炉和控制温差的微型加热器；

+  测量是由计算机控制的，并且能够在指定的温度下执行测量，并允许自动测量消除背底电动势；

+  欧姆接触自动检测功能（V-I图）；

+  可以用适配器来测量薄膜；

+  可定制高阻型。

测试原理：

样品以圆柱形或方柱的形式垂直放置在加热炉中的上块和下块之间。通过下块中的加热器给样品施加温度梯度，同时将样品加热并保持在规定的温度。塞贝克系数的测量是通过测量压在样品侧面的热电偶上的上部和下部T1，T2与热电偶一侧的同一股线之间的热电动势dE来确定的。
电阻测量采用直流四端法，通过在样品两端施加恒定电流I，测量热电偶同一元件线之间的电压降dV，并去除引线之间的热电动势来确定。

电阻测量系统可实现对金属或半导体材料的热电性能的评估。作为ZEM的特点，塞贝克系数（seebeck）和电阻都可以用一种仪器来测量。该系统可用于对于半导体，陶瓷材料，金属材料等多种材料的热电性能分析。

主要技术参数：

温度范围： 室温-600℃，800℃ ，1000℃多种范围可选择

温度设定范围:测温步数和温度采样测量步数：最大125步

测量方法 :温差电动势：静态直流法

电阻率：四电极法

气氛: 氩气或氮气

样品尺寸:2~4 mm正方形或直径2~4 mm，长6~22 mm（最大）

导线间距:4，6，8 mm

电源供应:200 VAC，单相，40 A（M8，M10规格）

100 VAC，单相，20 A（L规格，M8和M10规格）

冷却水需求:自来水,水压大于1.5 kgf/cm²,流量大于7 L/min

样品温差：MAX.50℃

测量方式：电脑全自动测量

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