DIVE 腕式水下超声波测厚仪（英国信固Cygnus）

DIVE腕式水下超声波测厚仪（英国信固Cygnus）

北京中恒日鑫科技有限公司是从事引进国外的核辐射测量设备、水质分析设备、气体检测设备等高科技产品。多年来，持续为我国核工业、环保局、化工厂、污水处理厂、环境监测站、放射性管理部门、出入境检验检疫局、应急响应、国土安全、军队、疾控中心、放射医学、科研机构、高校、工业厂矿、高新技术企业等众多的领域和部门提供高质量、高性能的产品和全方位的技术支持与服务。

主要品牌有 美国华瑞气体检测仪 美国英思科气体检测仪 意大利哈纳分析仪 德国罗威邦水质分析仪 英国凯恩烟气分析仪 英国ppm甲醛检测仪 德国宾得烘箱

DIVE腕式水下超声波测厚仪（英国信固Cygnus）  产品介绍：

信固腕式超声波测厚仪是为专业的潜水者量身定制的。在进行水下测厚时，潜水者将测厚仪固定在手腕上，另一只手可以解放出来。在配备了亮色AMOLED显示屏之后，即使在能见度低的地方，潜水者和照相机都方便地能从各个角度观察。即使在水下300米，它都能易于操作，精准地读数。信固潜水型测厚仪配备单晶探头，可以穿透厚达20mm（Deep-Coat模式下）的腐蚀和涂层厚度。在单波模式下，新引入的双晶探头方便在没有保护涂层情况下的基体测厚。该测厚仪的应用领域包括前后表面腐蚀严重的金属材料，如生铁和锚链。
正如所有信固其他产品一样，信固潜水型测厚仪的操作非常简便，只有两个按钮，一只手就可以简单快速地操作导航菜单。
新版Cyglink v4软件对于记录和显示测量数据的记录和储存方式提供了多种选择。 

DIVE腕式水下超声波测厚仪（英国信固Cygnus） 产品特点：

手腕佩戴，单手即可操作，完全解放另一只手
亮色AMOLED大显示屏，在能见度很低的水下，显示清晰可见
配备A扫描，用于测厚的验证
只要设置Auto-Log选项，无需按钮即可自动传输数据，A扫描可存多达5000条数据
无需去除涂层（最厚20mm），多重波***测量的准确性
多重波模式即可错误自检，以确保显示的厚度结果真实、可靠
Deep Coat模式下，可穿透20mm涂层进行测厚
配备双晶探头，用于单重波模式测厚
潜水型测厚仪探头连线为长达一米的卷线，有双层的绝缘保护层
经测试，可承受深达300米的水下压力
可充电型锂电池续航时间长达11小时

DIVE腕式水下超声波测厚仪（英国信固Cygnus） 技术参数：

示	2.8” 1/4 VGA AMOLED显示屏(像素320 x 240) 大字体显示（读数高度15mm ），任意角度都清晰可见 A扫描显示，带自动X坐标 电量，信号强度，探头型号，声速 测量模式、单位
电池	单个3.6V 锂离子8.2 W 电池 低电量警示消息
测量模式	多重回波（三次后壁回波），使用零度单晶探头 自动忽略表面涂层，并且只检测金属基材厚度 单次回波（***次后壁回波），使用双晶探头
较厚涂层	在多层回波模式下，可以容许穿透达20mm厚的涂层
探头	单晶探头 ： 2.25 MHz 13 mm (标准) S2C 2.25 MHz 19 mm S2D 3.5 MHz 13 mm S3C 5.0 MHz 6 mm S5C 双晶探头： 2.0 MHz 13 mm x2 (生铁等) T2C 5.0 MHz 8 mm x2 (标准) T5B
探头线	双层外防护层材质为PU，颜色为黄色，方便水下定位。卷线方便使用。用FischerS105 系列接口。
测量范围	单晶探头，多重回波（穿过涂层） 2.25 MHz = 3.0 ~ 250 mm 3.5 MHz = 2.0 ~ 150 mm 5.0 MHz = 1.0 ~ 50 mm 双晶探头，单重回波 5.0 MHz = 1.5 ~ 50 mm,  钢材中 2.0 MHz = 2.5 ~ 150 mm, 钢材中
测量分辨率	多重回波 单晶探头 - 0.1 mm 或 0.05 mm 单回波   双晶探头 - 0.1 mm 或 0.01 mm
测量单位	毫米或英寸
探头校零	所有类型探头都全自动校零
V声程修正	所有双晶探头自动V声程修正
速度范围	2000 -9000 m/s, 1 m/s SETPS中
脉冲器	双通道 70V尖峰脉冲
接收器/放大器	10 MHz带宽,  120 dB范围,  自动 TCG， 60 MHz 测量时基
数据记录	单手操作自动稳定存储数据，可储存多达5000多条测试数据，包括640条A扫描数据
数据输出	表面连接为RS-485单配对,半双工
电脑软件	Cyglink v4 允许远程传输数据并观察A扫描图，可生成PDF格式的报告，有数据图线及统计分析，适用于 Windows 7 和Windows 8

套件内容

信固潜水测厚仪主机，两块可充电电池，充电器，多重回波探头（通过涂层，2.25 MHz 13 mm），操作手册，探头薄膜，薄膜钥匙，测试块，薄膜耦合剂

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