JK-SEM1900型原位冷热台

JK-SEM1900型原位冷热台是一种在扫描电子显微镜（SEM）标准样品台上（无需改造电镜内部），提供样品原位变温测试的电镜附件。

北京精科智创科技发展有限公司是一家主要是从事精密仪器设备，我们同中国科学院，北京科技大学，清华大学，上海交通大学，北京航空航天大学等建立了合作和研究中心，目前我们主要在安全控制设备，计量检测设备，科学材料研究设备，3D打印及空间技术的研发和销售，我们将同国内的科研机构和高等院校进行更加广泛的合作，服务于国内和国外广大客户，我们将提供优质产品，优质服务，共同开拓进取。

我们为你提供材料表征测量的一系列产品：

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一表征：压电材料d33测量仪
1、ZJ-3型压电测量仪

2、ZJ-4型d33测量仪

3、ZJ-5型积层压电测试仪

4、ZJ-6型静压电d33/d31/d15测量仪

5、ZJ-7型高温压电测试仪

★压电极化装置

1、PZT-JH10/4压电极化装置（10KV以下压电陶瓷同时极化1-4片）

2、PZT-JH10/8压电极化装置（10KV以下压电陶瓷同时极化1-8片）

3、PZT-JH20/8高压电极化装置（20KV以下压电陶瓷同时极化1-8片）

4、PZT-FJH20  /3高压真空，空气极化装置（20KV以下压电陶瓷及压电薄膜1-3片试样）

★ 压电制样装置

1、ZJ-D33-YP15压电陶瓷压片机（压力范围: 0--15T，0-24T，0-30T，0-40T2

2、ZJ-D33-SYP30电动型压电陶瓷压片机（压力范围: 0--15T，0-24T，0-30T，0-40T）

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第二表征 铁电材料测量系统及电滞回线测量系统

1、ZT-4C型综合铁电测量系统

2、JKZT-10A铁电材料综合参数测试仪

3、JKGT-G300高温铁电材料测量系统

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第三表征 热电材料分析测量系统及塞贝克系数测试仪

1、BKTEM-Dx热电性能分析系统

2、BKTEM-Dx热电器件性能分析系统

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第四表征 介电材料测试系统

1、 常温介电测量系统，常温介电材料测试仪

2、 高温介电测量系统，高温介电材料测试装置

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第四表征磁性材料测试系统

JK-SEM1900型原位冷热台

       

JK-SEM1900型原位冷热台是一种在扫描电子显微镜（SEM）标准样品台上（无需改造电镜内部），提供样品原位变温测试的电镜附件。通过外接法兰装置实现对冷热台上的样品进行控温，稳定后温控精度最高可达±0.1℃ 可实现样品变温测试的温度范围：-185~50℃ / -185~200℃，满足原位高低温材料相变微观表征。SEM原位冷热台适合于各种样品在扫描电子显微镜中进行高低温结构研究，固定在现有样品台上。支持在现有各种扫描电子显微镜（蔡司、日立等）适配。

产品特点：

电热、液氮可实现快速升降温

可增加试样温度监测温度传感器

温控精度高±0.1℃，可编程阶梯控温

温控范围宽（-185~50℃ / -185~200℃）

可以在较大的电子束流下获得高质量图像

可适配SEM定制样品架，安装/拆卸过程简单

制冷完成测试后可快速（60℃/min）升温达到室温，正常更换样品，测试效率高。

产品应用：

 

       

产品详细参数一览表：

SEM原位冷热台		JK-CH200190S	JK-H600S
温控模块	冷热方式	液氮致冷，电阻加热	电阻加热
	温控范围	-190～200℃ *	RT~600℃ *
	温度稳定性	±0.1
	温度分辨率	0.1℃
	升降温速率	0~30℃/min（可定点 / 程序段控温）
	温控方式	PID
	温度传感器	热电偶
结构特性	样品台尺寸	23x23mm *
	样品台材质	铜质 *
	外形尺寸	75x75x23mm *
	整体重量	0.28KG
基本配置	SEM原位冷热台x1、温度控制器x1、致冷控制器x1（低温配置）、液氮罐x1（低温配置）、定制连接法兰x1、温控软件x1、循环水系统x1、连接管路若干
选配	电脑主机/安装支架/定制控制软件
备注	以上均为默认参数    * 为可定制项
其他可选型号	按需求进行配置

 

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