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更新时间:2024-09-18
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公司地址:北京顺义北小营
我们为你提供材料表征测量的一系列产品:
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一表征:压电材料d33测量仪
1、ZJ-3型压电测量仪
2、ZJ-4型d33测量仪
3、ZJ-5型积层压电测试仪
4、ZJ-6型静压电d33/d31/d15测量仪
5、ZJ-7型高温压电测试仪
★压电极化装置
1、PZT-JH10/4压电极化装置(10KV以下压电陶瓷同时极化1-4片)
2、PZT-JH10/8压电极化装置(10KV以下压电陶瓷同时极化1-8片)
3、PZT-JH20/8高压电极化装置(20KV以下压电陶瓷同时极化1-8片)
4、PZT-FJH20 /3高压真空,空气极化装置(20KV以下压电陶瓷及压电薄膜1-3片试样)
★ 压电制样装置
1、ZJ-D33-YP15压电陶瓷压片机(压力范围: 0--15T,0-24T,0-30T,0-40T2
2、ZJ-D33-SYP30电动型压电陶瓷压片机(压力范围: 0--15T,0-24T,0-30T,0-40T)
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第二表征 铁电材料测量系统及电滞回线测量系统
1、ZT-4C型综合铁电测量系统
2、JKZT-10A铁电材料综合参数测试仪
3、JKGT-G300高温铁电材料测量系统
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第三表征 热电材料分析测量系统及塞贝克系数测试仪
1、BKTEM-Dx热电性能分析系统
2、BKTEM-Dx热电器件性能分析系统
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第四表征 介电材料测试系统
1、 常温介电测量系统,常温介电材料测试仪
2、 高温介电测量系统,高温介电材料测试装置
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第四表征磁性材料测试系统


产品需要与温度控制器、致冷控制器(选配)配套使用,配套的上位机温控软件方便进行温度设置及采集,提供的Labview Vis方便客户进行定制化编程。
产品特点:
温度范围-190~600℃(选型)/RT~1000℃(选型)
温度稳定性±0.1℃(<600℃)±1℃(>600℃)
衍射角0~164°
X射线视窗Kapton膜
支持反射/透射模式
密腔室设计,可升级真空腔室(10^(-3) mBar)
可更换上盖,作为普通冷热台使用
可调节高度,满足不同厚度样品测试更换上盖,可用作光学冷热台,实现一机多用
详细参数一览表:
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XRD原位冷热台 |
JK-CH600190XV |
JK-H1200XV |
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温控模块 |
冷热方式 |
液氮致冷,电阻加热 |
电阻加热 |
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温控范围 |
-190~600℃ * |
RT~1200℃ * |
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温度稳定性 |
±0.1℃(<600℃),±1℃(>600℃)* |
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温度分辨率 |
0.1℃ |
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升降温速率 |
0~30℃/min(可定点 / 程序段控温) |
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温控方式 |
PID |
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温度传感器 |
PT100 |
热电偶 |
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光学特性 |
光路 |
反射 * |
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X射线透射膜 |
Kapton膜 |
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结构特性 |
样品台尺寸 |
23×23mm * |
12x12mm * |
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样品台材质 |
银质 * |
陶瓷 * |
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外形尺寸 |
100×100×73mm * |
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腔室 |
真空 |
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外壳冷却 |
循环水 |
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基本配置 |
XRD原位冷热台x1、温度控制器x1、致冷控制器x1(低温配置)、液氮罐x1(低温配置)、定制支架x1、温控软件x1、循环水系统x1、连接管路若干 |
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选配 |
电脑主机/定制温控软件/定制光学盖板 |
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备注 |
以上均为默认参数 * 为可定制项 |
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其他可选型号 |
CH400-100-X(-100~400℃) |
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产品应用:
搭配理学X射线衍射仪 ↓
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