JKGX-190型光学测试冷热台

JKGX-190型光学测试冷热台采用液氮制冷和电热丝加热方式，可以在-190℃~600℃范围内进行温度和环境控制，搭配其他仪表进行电学、光学等测试。

北京精科智创科技发展有限公司是一家主要是从事精密仪器设备，我们同中国科学院，北京科技大学，清华大学，上海交通大学，北京航空航天大学等建立了合作和研究中心，目前我们主要在安全控制设备，计量检测设备，科学材料研究设备，3D打印及空间技术的研发和销售，我们将同国内的科研机构和高等院校进行更加广泛的合作，服务于国内和国外广大客户，我们将提供优质产品，优质服务，共同开拓进取。

我们为你提供材料表征测量的一系列产品：

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一表征：压电材料d33测量仪
1、ZJ-3型压电测量仪

2、ZJ-4型d33测量仪

3、ZJ-5型积层压电测试仪

4、ZJ-6型静压电d33/d31/d15测量仪

5、ZJ-7型高温压电测试仪

★压电极化装置

1、PZT-JH10/4压电极化装置（10KV以下压电陶瓷同时极化1-4片）

2、PZT-JH10/8压电极化装置（10KV以下压电陶瓷同时极化1-8片）

3、PZT-JH20/8高压电极化装置（20KV以下压电陶瓷同时极化1-8片）

4、PZT-FJH20  /3高压真空，空气极化装置（20KV以下压电陶瓷及压电薄膜1-3片试样）

★ 压电制样装置

1、ZJ-D33-YP15压电陶瓷压片机（压力范围: 0--15T，0-24T，0-30T，0-40T2

2、ZJ-D33-SYP30电动型压电陶瓷压片机（压力范围: 0--15T，0-24T，0-30T，0-40T）

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第二表征 铁电材料测量系统及电滞回线测量系统

1、ZT-4C型综合铁电测量系统

2、JKZT-10A铁电材料综合参数测试仪

3、JKGT-G300高温铁电材料测量系统

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第三表征 热电材料分析测量系统及塞贝克系数测试仪

1、BKTEM-Dx热电性能分析系统

2、BKTEM-Dx热电器件性能分析系统

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第四表征 介电材料测试系统

1、 常温介电测量系统，常温介电材料测试仪

2、 高温介电测量系统，高温介电材料测试装置

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第四表征磁性材料测试系统

JKGX-190型光学测试冷热台

 

JKGX-190型光学测试冷热台采用液氮制冷和电热丝加热方式，可以在-190℃~600℃范围内进行温度和环境控制，搭配其他仪表进行电学、光学等测试。

结构紧凑，适用于各种变温测试

最大温度范围-190~600℃（选型）

气密腔室设计，可通保护气体

上位机软件控制支持改动或定制

温控特性

1. 温度范围：

下限温度(℃)（选型）：A. -100  B. -120  C. -150  D. -190

上限温度(℃)（选型）：A. 100  B. 200 C. 400 D. 600

2. 控温速度：0~10℃/min

3. 温度分辨率：0.1℃

4. 温度稳定性：±0.1℃（>-120℃），±0.3℃（<-120℃）< p="">

5. 温度控制：高精度PID控制（液氮致冷，电热丝加热）

6. 载样台材质：银质

7. 温度传感器：PT100

光学特性

1. 光路：适用透射和反射光路

2. 视窗：可拆卸更换，可用不同材质玻璃实现不同波段光观察

3. 最小物镜工作距离：8mm

4. 透光孔：默认无透光孔，可升级增设透光孔

5. 上盖视窗：φ15mm或25mm *可升级为其他尺寸

6. 视窗除霜：负温下吹气除霜管路

结构特性

1. 样品台面尺寸：35x35mm（以实际尺寸为准）

2. 样品腔高度：5mm（载样台上部空间高度）

3. 放样：移除上盖后放置样品

4. 气氛控制：默认气密腔室，通过2个快速自锁接头，充入保护气氛

*可升级为真空腔室，10-3mBar

5. 外壳冷却：通循环水，防止外壳过热

6. 安装固定：水平安装 *可升级兼容垂直安装

7. 台体尺寸：110x120x25mm

配置清单

基本配置：LRT-002冷热台x1  GD-001高低温控制器x1  液氮罐x1 温控软件x1

选配：电脑主机/安装支架/测试源表/同轴BNC/真空系统/循环水系统/湿度控制系统/定制控制软件

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