JK-120BCH半导体冷热台

我们为你提供材料表征测量的一系列产品：

--------------------------------------------               ----------------------------------

一表征：压电材料d33测量仪
1、ZJ-3型压电测量仪

2、ZJ-4型d33测量仪

3、ZJ-5型积层压电测试仪

4、ZJ-6型静压电d33/d31/d15测量仪

5、ZJ-7型高温压电测试仪

★压电极化装置

1、PZT-JH10/4压电极化装置（10KV以下压电陶瓷同时极化1-4片）

2、PZT-JH10/8压电极化装置（10KV以下压电陶瓷同时极化1-8片）

3、PZT-JH20/8高压电极化装置（20KV以下压电陶瓷同时极化1-8片）

4、PZT-FJH20  /3高压真空，空气极化装置（20KV以下压电陶瓷及压电薄膜1-3片试样）

★ 压电制样装置

1、ZJ-D33-YP15压电陶瓷压片机（压力范围: 0--15T，0-24T，0-30T，0-40T2

2、ZJ-D33-SYP30电动型压电陶瓷压片机（压力范围: 0--15T，0-24T，0-30T，0-40T）

--------------------------------------------               ----------------------------------

第二表征 铁电材料测量系统及电滞回线测量系统

1、ZT-4C型综合铁电测量系统

2、JKZT-10A铁电材料综合参数测试仪

3、JKGT-G300高温铁电材料测量系统

-------------------------------------------------------------------                ----------

第三表征 热电材料分析测量系统及塞贝克系数测试仪

1、BKTEM-Dx热电性能分析系统

2、BKTEM-Dx热电器件性能分析系统

-----------------------------------------------------------------------------

第四表征 介电材料测试系统

1、 常温介电测量系统，常温介电材料测试仪

2、 高温介电测量系统，高温介电材料测试装置

-----------------------------------------------------------------------------

第四表征磁性材料测试系统

JK-120BCH半导体冷热台

JK-120BCH半导体冷热台采用半导体致冷，配合低温循环液，实现从-40到180℃（选型）的控温。

结构紧凑，适用于各种变温测试

气密腔室设计，可通保护气体

多探针测试

上位机软件控制

支持改动或定制

温控特性

1. 温度范围：

下限温度(℃)（选型）：A. -30 B. -40

上限温度(℃)（选型）：A. 120 B. 180

2. 控温速度：0~10℃/min

3. 温度分辨率：0.1℃ 4. 温度稳定性：±0.1℃

5. 温度控制：高精度PID控制

6. 载样台材质：铜

7. 温度传感器：PT100

8. 冷却方式：低温循环液

光学特性

1. 光路：反射光路

2. 视窗：可拆卸更换，可用不同材质玻璃实现不同波段光观察

3. 最小物镜工作距离：12.0mm

4. 上盖视窗：φ25mm

结构特性

1. 样品台面尺寸：40x40mm（以实际尺寸为准）

2. 样品腔高度：9.0mm（载样台上部空间高度）

3. 放样：移除上盖后放置样品，固定探针

4. 气氛控制：默认气密腔室，通过2个快速自锁接头，充入保护气氛

*可升级为真空腔室，10-3mBar

5. 安装固定：水平安装

6. 台体尺寸：150x150x36mm

电学特性

1. 探针：4个固定式探针（紫铜镀金）

2. 探针接口：默认为BNC接头

*可升级为同轴BNC

3. 样品台面电位：默认电悬空，可选电接地

配置清单

基本配置：

LRT-P1冷热台 x1  高低温控制器 x1  低温冷却循环机 x1   温控软件 x1

选配：

电脑主机/安装支架/测试源表/同轴BNC/真空系统/湿度控制系统/定制控制软件