DP-C730  薄件穿透涂层测厚仪

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薄件穿透涂层测厚仪 型号：DP-C730  

薄件穿透涂层测厚仪概述

采用超声波测量原理，适用于能使超声波以一恒定速度在其里面传播，并能从其背面得到反射的材料厚度的测量。

此仪器可对板材和加工零件做测量，另一重要方面是可以对生产设备中管道和压力容器进行监测，监测它们在使用过程中受腐蚀后的减薄程度。可应用于石油、化工、冶金、航空、航天等各个领域。

薄件穿透涂层测厚仪适用材料

适合测量金属（如钢、铸铁、铝、铜等）、塑料、陶瓷、玻璃、玻璃、玻璃纤维及其他超声波的良导体的厚度。

薄件穿透涂层测厚仪基本原理

超声波测量厚度的原理与光波测量原理相似。探头发射的超声波脉冲到达背测物体并在物体中传播，到达材料分界面时被反射回探头，通过准确测量超声波在材料中传播的时间来确定被测材料的厚度。

薄件穿透涂层测厚仪规格参数

探头类型 单晶

测量范围 普通I-E模式：0.15mm～30mm(钢)

穿透E-E模式：0.5mm～10mm(钢)，大穿透涂层厚度0.5mm

测量频率 15M、20M 单晶

显示分辨率 0.01mm、0.001mm

声速范围 1000-9999m/s   

显示 128*64 LCD显示，LED背光

示指误差 ±0.005mm(5mm以下) ±0.01mm (5-30mm)，

自动关机 5分钟无操作后自动关机

工作温度 -10℃～＋50℃，有要求可达-20℃

工作电压 两节5#1.5V AA电池，当电量不足时，有低电压提示

操作时间 碱性电池长可使用200小时（不使用背光）

数据存储 500个数值存储功能

默认储存声速 可存储5种不同材料的声速，并且连续特调。

外形尺寸 153mm*67mm*26 mm

整机重量 220g

标准配置 主机1台、15M单晶探头1支、延迟块1个、耦合剂1瓶、5号电池2节、文件1套

可选配置 数据传输线