DP-x-5600 ROHS及无卤素测试仪

是否提供加工定制否类型数字式电阻测量仪表 品牌亚欧型号DP-x-5600 测量范围从铝(13)至铀(92)

是否提供加工定制	否	类型	数字式电阻测量仪表
品牌	亚欧	型号	DP-x-5600
测量范围	从铝(13)至铀(92)都可测量（MΩ）	测试电压	220（V）
精度	15%

ROHS及无卤素检测仪 ROHS及无卤素测试仪 型号：DP-x-5600

产品详情：

DP-X-5600是一种体现X射线荧光分析技术新进展的能量色散X射线荧光光谱仪。可进行无卤素(氯Cl、溴Br、碘I)测量它采用低功率小型X光管为激发源，电制冷硅半导体探测器为探测单元，再加上我公司专门开发的应用软件，充分发挥各部件的优异性能，保证了整台仪器的高分辨率及通用适应性。任何需要多元素同时分析的地方，正是它大有作为之处。下面将该仪器的资料作简单介绍。整机技术规格：激发源：本机采用低功率 X 射线管(Ag靶)，zui高电压可达50KV，zui大电流1mA高压电源：zui大50W，50KV，1mA探测器：电制冷 Si PIN半导体探测器(55Fe的能量为5.9Kev的MnKα线，分辨率优于149eV)多道分析器：2048道软件：基于WINDOWS的强大工作软件。定量分析包括：经验系数法，理论a系数法和基本参数法。定性分析包括： KL线标记，谱图比较和光标寻峰等。客户可进行二次开发，自行开发任意多个分析方法。6电源：交流220V 50Hz7体积：520mm x 600mm x 270mm8重量：约 42kg (主机)整机技术性能：测量元素范围宽：从铝(13)至铀(92)都可测量可测量含量范围，从ppm至测量速度快，通常为几十秒到几分钟多元素同时定性定量蜂位漂移：八小时小于1%进口探测器的性能指标：探测器类型：电制冷Si-PIN探测面积：2.4x2.8mm(6mm2)硅活化区厚度：500um探测器分辨率： 对于55Fe，@5.9keV 对于12us的形成时间，半高宽为149Ev探测器窗口：铍窗，12.5um厚进口高压电源规格：电压和电流从零至满量程连续可调，zui大50KV，1mA电压调整率：负载调整率：从空载到满载，电压变化为满量程的 0.01 %线性调整率：对于规定的输入电压范围，该数值为满量程的0.01%电流调整率：负载调整率：从空载到满载，电流变化为满量程0.01% 线性调整率：对于规定的输入电流范围，该数值为满量程的0.01%稳定性：经过半小时预热后，每8小时变化不超0.05%温度系数：温度变化一度，电压变化不超过0.01%详细参数：测量范围：Pb，Hg，Cr，Cd，Br，Cl测量精度：低于100ppm时度15ppm，大于100ppm时，度15%分析元素：Pb，Hg，Cr，Cd，Br，Cl检出限：Pb：3.2 mg/kg (ppm) Hg：3.2 mg/kg (ppm) Cr：4.1 mg/kg (ppm) Cd：5.8 mg/kg (ppm) Br：3.1 mg/kg (ppm) Cl：2.4 mg/kg (ppm)测量时间：30秒——120秒可选X射线源：X光管工作环境温度：10℃——45℃工作环境湿度：20%——80%高压器：50Kv操作系统：windows XP
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