产品简介:概述:ST2258C型多功能数字式四探针测试仪是运用四探针测量原理测试电阻率/方阻的多用途综合测量仪器。该仪器设计符合GB/T1551-2009《硅单晶电阻率测定方法》。主机主要由恒流源、高分辨率ADC、嵌入式单片机系统组成。仪器所有参数设定、功能转换全部采用数字化键盘输入;具有零位、满度自校功能;电压电流全自动转换量程;测试结果由数字表头直接显示。本测试仪特赠设测试结果分类功能,分类10类。选配:根据不同材料特性需要,可有多款选配。有高耐磨碳化钨探针,以测试硅类半导体、金属、导电塑料类等硬质材料的电阻率/方阻;也有球形镀金铜合金探针,可测柔性材料导电薄膜、金属涂层或薄膜、陶瓷或玻璃等基底上导电膜(ITO膜)或纳米涂层等半导体材料的电阻率/方阻。换上四端子测试夹具,还可对电阻器体电阻、金属导体的低、中值电阻以及开关类接触电阻进行测量。配专用,也可测试电池片等箔上涂层电阻率方阻。测试台选配:一般四探针法测试电阻率/方阻配SZT-A或SZT-B或SZT-C或SZT-F型测试台。二探针法测试电阻率测试选SZT-K型测试台,也可选配SZT-D型测试台以测试半导体粉末电阻率,选配SZT-G型测试台测试橡塑材料电阻率。详见《四探针仪器、和测试台的特点与选型参考》特点:仪器具有测量精度高、灵敏度高、稳定性好、智能化程度高、结构紧凑、使用简便等特点。用途:仪器适用于半导体材料厂器件厂、科研单位、高等院校对导体、半导体、类半导体材料的导电性能的测试。基本技术参数:1.测量范围、分辨率(括号内为可向下拓展1个数量级)电阻:10.0×10-6~200.0×103Ω,分辨率1.0×10-6~0.1×103Ω电阻率:10.0×10-6~200.0×103Ω-cm分辨率1.0×10-6~0.1×103Ω-cm2.分及误差等级满度显示200.020.002.000200.020.002.000200.020.002.000常规量程kΩ-cm/□kΩ-cm/□Ω-cm/□mΩ-cm/□---拓展量程---kΩ-cm/□Ω-cm/□mΩ-
临海四探针电阻率方阻测试仪钳形接地电阻仪多种型号图片
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| 型号:JX146026缘电阻测试仪CS2676FX |
型号:JX146022回路电阻测试仪XH-HL100B |
型号:JX145987四探针电阻率方阻测试仪ST2258C |
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【临海四探针电阻率方阻测试仪钳形接地电阻仪一共有★★30★★多种型号以上只显示1-3种型号,如没有合适您的产品请咨询 河北慧采科技开发有限公司】
临海四探针电阻率方阻测试仪钳形接地电阻仪多种型号内容
型号:JX146026缘电阻测试仪CS2676FX

◆自动调整输出电压 ◆具有放电功能 ◆可以手动换量程 ◆可以根据需要,设置被测物阻值下限
型号 | CS2676FX | 输出 电压 (DC) | 范 围 | 500V/1000V | 精 度 | &plun;(5%+3‰FS) | 档位 | 测量范围 | 2MΩ | 200kΩ-2MΩ&plun;(5%+2个字) | 20MΩ | 2MΩ-20MΩ&plun;(5%+2个字) | 200MΩ | 20MΩ-200MΩ&plun;(5%+2个字) | 2000MΩ | 200MΩ-1000MΩ&plun;(5%+2个字)、1000MΩ-2000MΩ&plun; |
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内阻仪
缘电阻测试仪CS2676FX
型号:JX146022回路电阻测试仪XH-HL100B

XH-XH100B回路电阻测量仪是根据中华人民共和国电力执行标准DL/T845.4-2004,采用高频开关电源技术和数字电路技术相结合设计而成。回路电阻测量仪适用于开关控制设备回路电阻的测量。其测试电流采用标准推荐的直流100A。可在电流100A的情况下直接测得回路电阻,并用数字显示出来。该仪器测量准确、性能稳定,符合电力、供电部门现场高压开关维修和高压开关厂回路电阻测试的要求。
回路电阻测量仪具有以下特点:
(1)大电流:回路电阻测量仪采用开关电源技术,能长时间连续输出大电流,克服了脉冲式电源瞬间电流的弊端,可以有效的击穿开关触头氧化膜,得到良好的测试结果。
(2)高稳定性:回路电阻测量仪在严重干扰条件下,液晶屏一位数据能稳定在&plun;1个字范围内,读数稳定,重复性好。
(3):回路电阻测量仪采用双路高速16位采样,数字信号处理技术,分辨力达到0.01μΩ,是目前能达到0.01μΩ分辨力且十分稳定的接触电阻测试仪,性能超过了进口大电流微欧计。
(4)智能化:回路电阻测量仪使用进口高性能CPU,测量时系统根据信号大小自动切换量程,确保了该产品的测试准确度。过温保护电路能够在仪器超过设定温度时自动停止输出电流,确保仪器的安全使用。
(5)高品质:回路电阻测量仪关键部件全部采用进口元件,通过巧妙设计的温度补偿电路有效的消除环境温度对测量结果的影响,接插件的使用增强了抗振性能。
(6)功能强大:回路电阻测量仪电流可在50A,100A中选择,测试时间可在5s~599s内任意设定,克服了其他同类仪器无法设定测量时间或连续工作时间过短的,远远超过了其他同类仪器的性能。
(7)人机界面友好:回路电阻测量仪通过旋转鼠标输入数据,方便快捷,可以设置仪器日期、时间,实时保存测量数据,即时打印测量结果。
(8)多种通信方式:回路电阻测量仪能够通过RS232串口(9针)或USB数据线与计算机通信,将测量数据上传至计算机,供试验人员进一步分析处理。
(9)使用方便:回路电阻测量仪体积小、重量轻,便于携带。
内阻仪
回路电阻测试仪XH-HL100B
型号:JX145987四探针电阻率方阻测试仪ST2258C

概述:
ST2258C型多功能数字式四探针测试仪是运用四探针测量原理测试电阻率/方阻的多用途综合测量仪器。该仪器设计符合GB/T1551-2009《硅单晶电阻率测定方法》。主机主要由恒流源、高分辨率ADC、嵌入式单片机系统组成。仪器所有参数设定、功能转换全部采用数字化键盘输入;具有零位、满度自校功能;电压电流全自动转换量程;测试结果由数字表头直接显示。本测试仪特赠设测试结果分类功能,分类10类。
选配:
根据不同材料特性需要,可有多款选配。有高耐磨碳化钨探针,以测试硅类半导体、金属、导电塑料类等硬质材料的电阻率/方阻;也有球形镀金铜合金探针,可测柔性材料导电薄膜、金属涂层或薄膜、陶瓷或玻璃等基底上导电膜(ITO膜)或纳米涂层等半导体材料的电阻率/方阻。换上四端子测试夹具,还可对电阻器体电阻、金属导体的低、中值电阻以及开关类接触电阻进行测量。配专用,也可测试电池片等箔上涂层电阻率方阻。
测试台选配:
一般四探针法测试电阻率/方阻配SZT-A或SZT-B或SZT-C或SZT-F型测试台。二探针法测试电阻率测试选SZT-K型测试台,也可选配SZT-D型测试台以测试半导体粉末电阻率,选配SZT-G型测试台测试橡塑材料电阻率。详见《四探针仪器、和测试台的特点与选型参考》
特点:
仪器具有测量精度高、灵敏度高、稳定性好、智能化程度高、结构紧凑、使用简便等特点。
用途:
仪器适用于半导体材料厂器件厂、科研单位、高等院校对导体、半导体、类半导体材料的导电性能的测试。
基本技术参数:
1.测量范围、分辨率(括号内为可向下拓展1个数量级)
电阻:10.0×10-6~200.0×103Ω,分辨率1.0×10-6~0.1×103Ω
电阻率:10.0×10-6~200.0×103Ω-cm分辨率1.0×10-6~0.1×103Ω-cm
2.分及误差等级
满度显示 | 200.0 | 20.00 | 2.000 | 200.0 | 20.00 | 2.000 | 200.0 | 20.00 | 2.000 |
常规量程 | kΩ-cm/□ | kΩ-cm/□ | Ω-cm/□ | mΩ-cm/□ | --- |
拓展量程 | --- | kΩ-cm/□ | Ω-cm/□ | mΩ-cm/□ | mΩ-cm/□ |
基本误差 | &plun;2%FSB &plun;4LSB | &plun;1.5%FSB &plun;4LSB | &plun;0.5%FSB&plun;2LSB | &plun;0.5%FSB &plun;4LSB | &plun;1.0%FSB &plun;4LSB |
3工作电源:220V&plun;10%,f=50Hz&plun;4%,PW≤5W
4外形尺寸:245mm(长)×220mm(宽)×95mm(高)
净重:≤1.5~2.0kg
内阻仪
四探针电阻率方阻测试仪ST2258C
临海四探针电阻率方阻测试仪钳形接地电阻仪
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