3H-2000PS 介孔材料静态法比表面及孔径分析仪

3H-2000PS1型介孔材料静态法比表面及孔径分析仪，具有2个样品预处理脱气站，1个样品分析站。测试精度高、重现性好。重复性误差小于±1%。测试范围：比表面0.0005m2/g以上，微孔：0.35-2nm、介孔：2-50nm、大孔：50-500nm，样品类型：粉末，颗粒，纤维及片状材料等可装入样品管的材料。知名品牌，远销海外，获得多项

介孔材料静态法比表面及孔径分析仪测试理论：

吸附、脱附等温线测定；             BET比表面测定(单点/多点法)；          

朗格缪尔(Langmuir)比表面；       统计吸附层厚度法外比表面；            

BJH法孔容孔径分布；                 MK-plate法(平行板模型)孔容孔径分布；  

D-R法微孔分析；                       t-plot法(Boder)微孔分析；               

H-K法(Original)微孔分析；           MP法(Brunauer)微孔分析；             

真密度测试；                            粒度估算报告。

介孔材料静态法比表面及孔径分析仪测试范围：
比表面0. 0005m2/g至无上限；
孔径：0.35-500 nm(微孔常规分析: 0. 35-2nm; 介孔分析: 2nm-50nm; 大孔分析: 50nm-500nm)；
总孔体积：0.0001cc/g至无上限。

测量精度：

比表面积重复精度≤± 1.0%，可几孔径重复偏差≤0.02nm，真密度≤±0.04%；外表面积≤± 1.5%。

分析位：
多个分析站，多个处理站可选（1/2/4/6）；1个P0站，

测试1个样品和2个样品的脱气处理，并且样品的测试过程和脱气处理可同时进行；测试系统和脱气系统相互。

P0：具有的饱和蒸汽压(P0)测试站，保证分压测试的高准确性。

测试系统：
根据国标标准“氮气+氦气”测试模式，利用氦气测试温区体积，使测试精度更高，重复性更好。

预处理：
多路脱气站，脱气过程由软件自动控制，具有控温、定时以及真空泵启停等功能。可支持与测试同步进行的不同温度与不同时间的样品脱气处理；还具备预处理起止时间的预设功能，实现无人值守测试和样品处理，大大提高工作效率。

具有“普通加热抽真空分子扩散模式”和“分子置换模式”两种可选功能；分子置换模式相对分子扩散模式效率提高1倍以上，可节省一半以上的预处理时间，解决以往静态法样品制备时间长的问题。

气控阀：采用原装进口日本SMC气控阀，彻底杜因电磁阀发热产生的气体受热膨胀问题。
压力测量：每个分析站都配有原装进口电容硅薄膜双压力传感器，分段测试：0-1000torr，0-1torr；读数精度误差≤0.15%，为目前压力传感器的zui；大孔段具有P0的实时测试功能，使P/P0在趋于临界点时的控制精度达到0.998；

介孔材料静态法比表面及孔径分析仪技术：

l P0测试站

具有的饱和蒸汽压(P0)测试站，保证分压测试的高准确性。

(静态法比表面及孔径分析仪的饱和蒸气压测试装置，：ZL201120136959.X)

l 软硬件配合，彻底消除扬析沸腾现象

贝士德的涡旋降尘原理的硬件防抽飞装置，结合软件防抽飞程序彻底消除易挥发样品在高真空时的扬析沸腾现象，从而避免了挥发物污染阀门管路后造成系统气密性下降的情况。

(具有除尘防污染装置的静态法比表面及孔径分析仪，：ZL201320045881.X)

l 可选处理模式

具有外创的样品预处理普通模式和分子置换模式两种模式。

(静态法比表面及孔径分析仪的净化预处理装置，：ZL201120136943. 9)  

介孔材料静态法比表面及孔径分析仪测试报告：

本页产品地址：http://www.geilan.com/sell/show-7461354.html