Thick800A 金属镀层测厚仪

金属镀层测厚仪Thick800A是专门用于电镀行业的一款检测仪器，仪器可满足各种规格电镀产品的厚度测量。

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公司被授予 “国家火炬计划高新技术企业”，“江苏省高新技术企业”，“江苏省软件企业”，“江苏省科技创新示范企业”，“江苏省规划布局内软件企业”，“江苏省光谱分析仪器工程技术研究中心”等荣誉称号。X荧光光谱仪系列产品被认定为“国家新产品”和“江苏省高新技术产品”。产品品种齐全，为环境保护与安全、工业测试与分析及其它领域提供专业解决方案。
天瑞仪器将以“分析行业者”的姿态，不断探究世界分析领域的前端。为客户提供加的产品和加满意的服务，同时为电子、电器、珠宝、玩具、食品、建材、冶金、地矿、塑料、石油、化工、医药等众多行业提供为完善的行业整体解决方案，从而推动中国经济快速全球化。

上图为天瑞大厦实景图

金属镀层测厚仪

行业概况

金属镀层测厚仪

仪器介绍

型号：Thick800A

X光射线法原理
X射线射到电镀层表面，产生X射线荧光，根据荧光谱线元素能量位置及其强度确定镀层组成及厚度。



应用特点
，测量镀层范围广，适合细微面积及超薄镀层的测量。

测量精度及误差
单镀层和多镀层样品中外层分析精度比较高，一般相对误差在2%-5%以内， 其测量的稳定性也比较好；
多层样品中内层镀层的分析精度逐层下降，一般第二层相对误差在5%-10%，第三层相对误差10%-20%；
具体测试精度需依靠相应厚度标样进行辅助校正，以达到相应度需求。

Thick800A仪器尺寸
外观尺寸： 576(W)×495(D)×545(H) mm
样品室尺寸：500(W)×350(D)×140(H) mm
样品台尺寸：230(W)×210(D)mm
移动范围：50(X)mm， 50(Y)mm
Z轴升降平台升降范围：0-140mm

Thick800A应用
针对不规则样品进行高度激光定位测试点分析；
元素分析范围从硫(S)到铀（U）。
同时可以分析30种以上元素，五层镀层。
分析含量一般为ppm到99.9% 。
通过软件操作样品移动平台，实现不同测试点的测试需求；
配置高分辨率Si-PIN半导体探测器，实现对多镀层样品的分析；
内置高清晰摄像头，方便用户观测样品状态；
高度激光敏感性传感器保护测试窗口不被样品撞击。

金属镀层测厚仪

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金属镀层测厚仪


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