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价格:电议
所在地:上海
型号:
更新时间:2018-07-03
浏览次数:1140
公司地址:上海市嘉定区恒永路328弄联东U谷59号楼
杨毓(先生)
QY-SQ85表面疵病检测仪是一款高分辨率的光学表面疵病(包含划痕/麻点等)检测系统。结合特殊的暗场照明装置和大景深成像系统,可直观、清晰的观察被测件的表面疵病,避免传统光洁度检验中光照亮度、照明方向、人眼灵敏度和检验员的经验所带来的人为判断误差。
特点:
1、采用CCD采集显示的方法检测光学表面疵病客观、重复性好,避免人为检测的主观性;
2、采用亮度均匀的暗场照明方式,表面疵病的显示清晰、直观;
3、针对车间检测设计,操作方便。
产品应用:
平面或大曲率球面光学表面的划痕/麻点检测。
探测器 |
200万像素相机 |
视野范围 |
30mm*22.5mm |
CCD尺寸 |
1/3英寸 |
成像倍率 |
6.25:1 |
样品尺寸 |
≦Φ85mm |
检测标准 |
GB/T 1185-2006 |
监视器尺寸 |
15英寸 |
主机尺寸 |
350×250×400mm |
主机重量 |
3kg |
电源 |
AC85-240V 50/60Hz |