DL10-ST-21 导体材料导电薄膜电阻检测仪

方块电阻测试仪是一种依照类似的标准和美国A.S.T.M标准，专门测量半导体薄层电阻(表面电阻)的仪器，可用于测量一般半导体材料、导电薄膜(ITO透明氧化膜)，金属薄膜……等同类物质的薄层电阻。

北京北信未来电子科技中心是高科技产品系统集成商，集开发设计、生产、销售、服务、技术支持为一体的高科技企业。公司大量提供国内外各种先进的在线、离线仪器仪表、机械设备与材料，尤其在石油、化工、环保、电子、冶金、机械、光学、通讯、科技教学、医疗卫生等领域，与国内外众多著名专业厂家有密切合作关系。
经营领域主要包括：仪器仪表、气体检测仪、金属探测仪、环保设备、医疗保健、实验室仪器、化工仪器设备、农业仪器、机电设备、电力通讯设备等近百个行业多种仪器仪表技术和相关设备。
服务主要包括：仪器产品技术支持、产品制造、销售、维护、维修、运行。
自成立以来凭借专业的的技术服务团队、大型的仓储基地及完善的代理及销售体系业务发展迅速，相关党政军机构、院校以及世界五百强企业已成为北信未来电子长期合作伙伴，北信未来电子通过线上直销体系及遍布全国的经销网络，最大化压缩了商品流通环节，走自主品牌化道路，大大降低了客户采购成本，成为业内知名工业品系统集成商。
在未来的发展中，北信未来电子将继续坚持诚信、团队、专业、创新的企业精神，以更专业化的技术支持服务与优质的产品满足各行业的需求，为国内外仪器仪表市场发展贡献自己的力量。

  企业文化

  服务理念：

  “用心专业服务，创造精彩未来”

  战略目标：

  “以完善的解决方案和优质的服务，做中国仪器仪表领域最专业的服务商之一。”

  企业精神：

  “上进坚韧豁达高尚” 即：我们提倡员工在工作上积极努力，力求上进;具备坚韧不拔的意志力;拥有对待任何事情都能够乐观豁达的好性格;具有吃苦耐劳的高尚品德。

  价值观：

  “锐意进取、实现理想;积极参与，回报社会”

 方块电阻测试仪 导体材料导电薄膜电阻检测仪 半导体薄层电阻测定仪 表面电阻测量仪方块电阻量值检测仪

型号DL10-ST-21

DL10-ST-21型方块电阻测试仪是一种依照类似的标准和美国A.S.T.M标准，专门测量半导体薄层电阻(表面电阻)的仪器，可用于测量一般半导体材料、导电薄膜(ITO透明氧化膜)，金属薄膜……等同类物质的薄层电阻。

该仪器以大规模集成电路为主要核心；用基准电源和运算放大器组成稳流源；带回路有效正常指示电路；并配以大型LCD显示读数，使仪器具有体积小、重量轻、外形美、易操作、测量速度快、精度高的特点。

特点：

1采用大规模集成电路作为仪器的主要部分，测量准确稳定，低功耗；

2以大屏幕LCD显示读数，直观清晰；

3采用单个电池供电，带电池欠压指示；

4体积≤175mmX90mmX42mm，重量≤300g；

5特制之手握式探笔，球形探针、镀金探针有效接触被测材料及保护薄膜

6探头带抗静电模块

技术指标：

测量范围按方块电阻量值大小分为二个量程档：

1.方块电阻1.00～199.99Ω/□；

2.方块电阻10.0～1999.9Ω/□；

恒流源测量过程误差：≤±0.8%

模数转换器量程：0～199.99mv；

分辨率：10μv；

方式：LCD大屏幕显示；性，超量程均自动显示；小数点同步显示；

测量不确定度在整个量程范围内，测量不确定度≤5%

四探针探头规格间距：1mm、1.59mm、3.8mm；偏差≤2%；游移率≤0.3%；缘电阻≥500MΩ

电源9V叠层电池1节

 

DL10-ST-21方块电阻测试仪可选配HP系列四探针探头的型号及规格：

型号 (Model) 曲率半径 (Radius) 压力 (loads) 探针间距 (spacing) 探针排列 (Arrangement) HP-501 0.5mm 100g 3.8mm 直线 HP-502 0.75mm 100g 3.8mm 直线 HP-503 0.1mm 150g 1mm 直线 HP-504 0.5mm 100g 1.59mm 直线

DL10-ST-21方块电阻测试仪可选配SP-601型方型四探针探头的型号及规格：

型号 (Model) 曲率半径 (Radius) 压力 (loads) 探针间距 (spacing) 探针排列 (Arrangement) SP-601 0.5mm 100g 1.59mm 方形

 

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