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LA-S 多功能植物图像分析系统

上海点将精密仪器有限公司

会员指数：

企业认证：

价格：电议

所在地：上海

型号： LA-S

更新时间：2015-11-30

浏览次数：952

公司地址：上海松江车墩泖亭路188号财富兴园42号楼

田先生(先生)

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产品简介

名称：多功能植物图像分析系统型号：LA-S 产地：用途：LA-S多功能植物图像分析仪是一种在实验室使用的植物图像分析设备。采用统一标准，可、快速地测定叶片的叶面积和叶色参数，以及瓜

公司简介

点将科技一直专业致力于生态环境和现代农业相关科研及应用系统和仪器的研发、销售及服务，是全球一百多家同类产品厂家的中国指定代理和服务商，至今已超十五载。

为满足客户的需求，点将科技在上海、北京、昆明、合肥、成都、郑州和西安分别成立了销售技术服务中心, 备有大量现货和配件。承诺所有相关咨询24小时内响应，三个工作日内提出解决方案。

售前：专业的市场技术人员根据客户的项目需求，尽心提供项目配置或系统定制的专业建议。

售中：时刻关注客户项目的进展动态，实时解决项目落实过程中的相关问题，协助做好项目启动前的相关准备。

售后：专业的技术工程师随客户到现场协助系统的安装调试，并对使用人员进行全面细致的使用培训。提供电话、Email、QQ、微信等多种联系方式，为客户及时解决项目运行过程中的各种问题。

点将科技拥有一支理论扎实、技术过硬的市场技术团队，并聘请了相关高校及研究院的专家教授作为我们的长期顾问。我们始终以诚信、专业、高效、感恩的态度为我们尊敬的客户提供行业动态、项目设计、方案咨询、产品选型、专业采购及安装培训等全程优质服务。

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产品说明

LA-S多功能植物图像分析系统

名称：多功能植物图像分析系统 型号：LA-S 产地：

用途：LA-S多功能植物图像分析仪是一种在实验室使用的植物图像分析设备。采用统一标准，可精确、快速地测定叶片的叶面积和叶色参数，以及瓜果截面各部分的参数，也可对采摘的植物叶片及其它片状物体进行面积测量，还可进行叶片颜色分析（包括按叶片颜色自动分档查询，用于植物或作物氮肥状态的快速评价）。系统的植物年轮分析模块可用于树木年代学、年轮生态环境变化学、年轮气候学、地理科学、考古学研究。植物根系分析模块为模块，用于洗根后的专业根系分析，可分析根系长度、直径、面积、体积、根尖记数等，其功能强大，操作简单，运用于根系形态和构造研究。该仪器综合了植物、农作物在叶面积、病斑面积、虫损叶面积、根系、年轮、叶色、瓜果剖切面，以及棉纤维粗细和长度这8大方面的分析功能，广泛适用于农业、林业、气象等部门。

LA-S多功能植物图像分析系统


植物叶面积分析	植物叶色比对分档

植物年轮分析	植物年轮分析

植物根系分析	植物根系分析

西瓜剖面各部位分析	橙子剖面各部位分析

技术规格：

硬件规格：
光学分辨率	4800×9600 dpi
zui大分辨率	65535×65535 dpi
拍摄箱	封闭/半封闭式扫描、无直射强光干扰
zui大分析测量面积	zui大分析面积356 mm × 216 mm，如果配合根盘使用分析面积为300 mm × 200 mm
分辨的zui小尺寸	0.008 ×0.008 mm
图像分析测量精度	X向≤±0.5 %，Y向≤±0.25%
长度测量重现性误差	<±0.25%
面积测量重现性误差	<±0.25%
台间测量差异	<±0.25%
测量总时间	30~60秒
软件功能：
叶片分析	可全自动地大批量分析计算叶面积，并以叶片目标边缘标记来核对其正确性。可同时分析多张叶片面积，及分析小至1mm²的叶片。叶面积 (可累计面积)、叶片面积（可累计面积)、叶子穿孔面积 (可累计面积)、叶片长度和宽度、叶柄长度、叶周长 (不受叶片孔洞影响)、叶片周长、叶片长宽比、叶片形状系数、自定义长度和角度测量，叶片锯齿高度、宽度、数量测量，叶孔面积测量；包膜（齿-齿之间的直线长度和），包膜形成的投影面积；不规则叶片形态分析，真彩的病斑、虫损面积分析（含2/3以上叶片被严重虫损的虫损叶面积分析），叶片颜色分档分析(包括按叶片颜色自动分档查询，用于氮肥状态的外观评价)。同时分析多片叶时，可得到叶片总面积、周长等参数，也可得到其中每一片叶片的周长、面积等参数。
植物根系分析	植物根系可分析测量：1)根总长；2)根平均直径；3)根总面积；4)根总体积；5)根尖计数；6)分叉计数；7)交叠计数；8)根直径等级分布参数；9)根尖段长分布，10）可不等间距地自定义分段直径，自动测量各直径段长度、投影面积、表面积、体积等，及其分布参数；11）能进行根系的颜色分析，确定出根系存活数量，输出不同颜色根系的直径、长度、投影面积、表面积、体积。12）能进行根系的拓扑分析，自动确定根的连接数、关系角等，还能单独地自动分析主根或任意一支侧根的长度和分叉数等，可单独显示标记根系的任意直径段相应各参数（分档数、档直径范围任意可改，可不等间距地自定义），并能进行根的分叉裁剪、合并、连接等修正，修正操作能多步回退，以快速获得正确的结果。精度：根长 ≤±1%；面积：优质图像质量时<1%，标准图像质量时≤3%。匹配专门的双光源照明系统，提供高分辨率的彩色或黑白图像，去除了阴影和不均匀现象的影响，有效保证图像质量。采用非统计学方法测量计算出交叉重叠部分根系长度等，可读取TIFF、BMP、JPEG、PNG、PCX标准格式的图像。可兼做针叶面积、体积测量，以及棉纤维粗细、长度测量。
瓜果剖面分析	瓜果剖面各部位分析：1).可测西瓜的：纵径、横径、果形指数、总面积、皮厚、空心面积、瓤色分档分析、外周长；2).可测哈密瓜等甜瓜的：纵径、横径、果形指数、截面积、肉厚、外周长、瓤色分档分析、种腔（纵径、横径、面积）；3).可测苹果、梨等的：纵径、横径、果形指数、总面积、核心面积、肉色分档分析、外周长；4).可测柑橘类水果的：纵径、横径、果形指数、总面积、皮厚、肉色分档分析、外周长。还可分析木材的边材面积。
植物年轮分析	可自动判读年轮数、各年轮平均宽度、早材及晚材宽度、各年轮切向角度和面积。可自动划分出年轮边界、早材边界、晚材边界，以及识别出很窄的树轮，可交互删除伪年轮、插入断年轮，可自动生成分析年表。可以直接分析zui大达到2万万像素（2亿像素）的超扫描的幅面年轮图像（能分析在 3200dpi分辨率下，成像分析430mm×30mm区域的年轮灰度图像（A3扫描仪），精度远高于目前常用的1600dpi分辨率）。具有【精细】分析选项，可自动分析出≤0.2mm宽度的年轮，分析获得的测量数据具备进一步做交叉定年、数据分析处理能力。可计算树盘总面积。
人工辅助修正	图像可放大缩小和局部观察，可实现鼠标区域选择统计、对污染区的辅助裁剪或橡皮擦修正
统计效果监视	监视和修正植物对象分析的精度
自动杂质剔除	根据尺寸等方面的区别，进行自动杂质剔除
辅助测量功能	尺寸标定：自带标定功能，实现半自动的尺寸标定，XY向可分别标定修正长度测量：具有跟随放大镜功能，通过鼠标拖动测量；
数据报表导出	分析结果能导出到Excel表，以便存档和统计。还可输出分析标记图，以便发表论文用