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REMACOMP® C 软磁交流磁滞回线自动测量仪

北京伟信楚华商贸有限责任公司
会员指数: 企业认证:

价格:电议

所在地:北京

型号:REMACOMP® C

更新时间:2024-04-28

浏览次数:1524

公司地址:北京市海淀区二里庄5号楼102室

李工(先生)  

产品简介

REMACOMP®C 系列仪器包括各种计算机控制的自动测量系统,用以测量软磁体材料的动态(AC)磁性特征。这些信息在材料研究、质量控制和系统设计中广泛使用。特征数据从对磁滞回线的测量中获得,重要的特性从铁芯损耗

公司简介

公司成立于2002年,主要销售各类医用X射线性能检测仪表及模体,并能按照相应国家检测规范提供专业检测培训。
主要技术服务:
1.可提供放射防护评价与检测的培训。
2.可为职业卫生技术服务机构的构建与专业技术人员的技术培训提供服务。
3.可为放疗与核医学设备质量控制检测提供技术培训服务。
主要产品:
1.X射线检测仪表:X射线机多功能质量检测仪,铅尺,嵌铅刻度米制直尺,千伏表,脉冲表,毫安及毫安秒表,剂量仪,三维水箱,二维水箱,一维水箱,矩阵。
2.医用CT检测仪:CT剂量检测仪,CATPHAN500CT性能检测模体,CATPHAN600性能检测模体,CT头部及体部剂量模体,3D躯干检测模体。
3.核磁共振检测仪,高斯计,SMR170核磁共振性能检测模体,SMR100核磁共振性能检测模体。
4.其它医疗设备检测仪:超声功率计,除颤器检测仪,电气安全分析仪,多参数患者模拟仪,高频电刀分析仪,呼吸机检测仪,剂量面积乘积仪,脉搏血氧分析仪,生物安全柜检测仪,输液泵注射泵检测仪,无创血压模拟仪,血透机检测仪,胶片密度计,亮度计。
5.各种检测模体:铅尺,CR及DR性能检测模体,DSA性能检测模体,乳腺性能检测模体,数字乳腺机检测模体,3D牙科机头部检测模体,牙科机测模体,AEC自动曝光控制模体,低对比度测试卡,星卡,分辨率测试卡,低对比度细节模体,19孔低对比度测试模体,综合测试卡,X射线3D躯干检测模体,X射线3D头部检测模体,放射外科头部检测模体,剂量验证模体,GAMMEX超声模体,GAMMEX多普勒流量测试系统,PET散射检测模体,PET及SPECT检测模体;核医学设备检测模体套装,X、γ刀球形检测模体,伽马刀球形检测模体等。

我公司还提供更多检测仪表及模体,敬请来电垂询!谢谢!

我公司提供的所有设备完全符合:放射卫生技术服务机构仪器设备的要求。
完全符合:数字减影血管造影(DSA)X射线设备成像性能验收试验(GB/T 19042.3-2005)的要求。
完全符合:医用血管造影X射线机专用技术条件(YY/T 0740-2009)的要求。
完全符合:牙科X射线设备成像性能验收试验(GB/T 19042.4-2005)的要求。
完全符合:X射线计算机断层摄影装置质量保证检测规范(GB 17589-2011)的要求。
完全符合:医用X射线诊断放射防护要求(GBZ 130-2013)的要求。
完全符合:乳腺X射线摄影质量控制检测规范(GBZ 186-2007)的要求。
完全符合:计算机X射线摄影(CR)质量控制检测规范(GBZ 187-2007)的要求。
完全符合:医用常规X射线诊断设备影像质量控制检测规范(WS 76-2011)的要求。
完全符合:X射线摄影用影像板成像装置专用技术条件(YY/T 0794-2010)的要求。
完全符合:数字化医用X射线摄影系统专用技术条件(YY/T 0741-2009)的要求。
完全符合:医用数字摄影(CR、DR)系统X射线辐射源检定规程(JJG 1078-2012)的要求。
完全符合:X射线摄影用影像板成像装置专用技术条件(YY/T 0794-2010)的要求。
完全符合:数字化医用X射线摄影系统专用技术条件(YY/T 0741-2009)的要求。
完全符合:医用数字摄影(CR、DR)系统X射线辐射源检定规程(JJG 1078-2012)的要求。

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产品说明

 REMACOMP® C

软磁交流磁滞回线自动测量仪

REMACOMP®C 系列仪器包括各种计算机控制的自动测量系统,用以测量软磁体材料的动态(AC)磁性特征。这些信息在材料研究、质量控制和系统设计中广泛使用。特征数据从对磁滞回线的测量中获得,重要的特性从铁芯损耗、剩磁、矫顽力和磁导系数中得出。

除 了 功 率 放 大 器 外 ,REMACOMP®C 的很多部件都集成到系统计算机上。这样

就尽量减少了外部电缆连接。外部功率放大器的输出值可在很宽的范围内适应具体的要求。仪器的频率范围从 10 Hz 到 2 KHz,10 kHz 或者 500Hz,zui高可打到 3 MHz,具体范围取决于所选的零部件。

测量:

根据型号和配件的不同,REMACOMP® C 可进行以下测量:

对横截面均匀和封闭磁路样品(比如环型或跑道形样品)的测量。对于这类测试,样品必须配两个绕组。

对其他可以配两个绕组的样品的相对(比较)测量。

使用带测量线圈(环绕线圈)的开放磁场线圈对开路中的条形样品的测量。

在 Epstein 框架中对条状或片状样品的测量。

在单片磁轭中对条状或片状样品的测量。


本页产品地址:http://www.geilan.com/sell/show-5624683.html
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