15J 15J测量显微镜

15J测量显微镜

利用直角坐标系进行细微零件的孔径、基面距离、刻线宽度、键槽宽度、狭缝宽度、通孔圆外径，利用圆点坐标系进行角度、刻度盘、样板；量规、钻孔、模板、刀具磨制及几何形状复杂的零件角度测量；作为普通显微镜观察工件表面光洁度、矿石标本、照相制版、纺织纤维。

15J测量显微镜

1、目镜放大倍数：10X
2、物镜放大倍数：2.5X/0.08，10X/0.25
3、显微镜放大倍数：25X、100X
4、工作距离（mm）：58.84、7.81，视场直径(mm)：5.6、1.4
5、测量工作台读数装置主要规格
X—轴移动测量范围　50mm；Y—轴移动测量范围　13mm
测微器分度值：0.01mm，测量台转动范围：不限；测量台刻度盘游标读数示值：6’
6、测量精度：仪器示值误差±（5+L/15）微米
仪器示值误差：包括测量误差与仪器系统误差.
注：测量地点温度变化（20±3）℃； L—被测件长度（mm）
7、仪器之主要尺寸：测量台与物镜间之zui大距离：80mm ;测量工作台直径：120mm