xt20272 高（数字式）LCR测试仪

高（数字式）LCR测试仪是测量LCR元器件特性不可或缺的基本设备。该产品的量程为10的13次方，具有广泛的测量范围，基本精度达到0.05％，并具有5种测试频率，不失为电子产业标准紧密测量仪器。 测量模式 AUTO、R+Q

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高（数字式）LCR测试仪
是测量LCR元器件特性不可或缺的基本设备。该产品的量程为10的13次方，具有广泛的测量范围，基本精度达到0.05％，并具有5种测试频率，不失为电子产业标准紧密测量仪器。
测量模式 AUTO、R+Q、L+Q、C+D、C+R
等效电路 串联、并联
显示参数 测量值、偏差、％偏差、BIN号码；偏差与％偏差是同内部存储值演算的结果
平均测量值 2～10次测量值的平均值
功能描述
测量模式 AUTO、R+Q、L+Q、C+D、C+R
等效电路 串联、并联
显示参数 测量值、偏差、％偏差、BIN号码；偏差与％偏差是同内部存储值演算的结果
平均测量值 2～10次测量值的平均值
测量范围
R＋Q R：0.0001Ω～2000MΩ；Q：0.00001～50
L+Q L：0.0001μH～99999H；Q：0.00001～50
C+D C：0.0001pF～99999μF；D：0.00001～10
C+R C：0.0001pF～99999μF；R：0.00001～99999kΩ
测量频率 100Hz、120Hz、1KHz、10KHz、100KHz
频率精度 ±100ppm
驱动电平 0.1V，0.25V，1Vrms
驱动电平精度 ±2％
测量速率 慢、中、快：在大于1KHz测试频率下为每秒测2、10或20次，在100Hz和120Hz下每秒测0.6、2.4或6次
量程 自动或手动
控制 连续、手动或用RS232，GPIB接口外部控制
偏置电压 内：2.0VDC±2％；外：0到＋40VDC（0.2保险丝）
精度必要条件 在23℃±5℃条件下，至少预热30分钟
基本精度 0.05％（有关精度的详细内容，请参照精度部分）
GPIB/处理器接口 GPIB与处理器接口功能。处理器接口，可按8个Pass bin和2个Fail Bin排序。
Kelvin夹 当部件难于同其它夹具连接时可使用本夹具
SMD夹钳 用于连接贴片部件。
径向夹具 连接于LCR表的正面，可方便地测量径向或轴向型部件。
持有证书 CE
北京百思佳特公司主营行业：仪器仪表/实验设备/矿用设备/石油产品/教学仪器/医疗器械

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