DP-ICT-33B 数字集成电路测试仪

数字集成电路测试仪 型号：DP-ICT-33B该机系引外大散件组装而成的智能化测试议器，能方便快捷地测试40脚以内的TTL、CMOS、RAM、EOROM、EEPROM、光耦、LED、单片机及微机外围电路；具有好坏判别，型号判别、老化

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 数字集成电路测试仪 型号：DP-ICT-33B

该机系引外大散件组装而成的智能化测试议器，能方便快捷地测试40脚以内的TTL、CMOS、RAM、EOROM、EEPROM、光耦、LED、单片机及微机外围电路；具有好坏判别，型号判别、老化、代换查询、破译及编程等多种功能
编程电压 1.25V、21V、26V
编程速度 9档
适应电源 AC 220V±10% 50HZ±4%
视在功能 15VA
工作环境 5℃-45℃
外型尺寸 387×260×109mm
重 量 约2.5Kg 

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