JDC-4 静电场描绘实验仪

1.    JDC-4  静电场描绘实验仪 


1、导电层均匀性相对误差＜3%。 
2、电与镀膜层接触电阻＜0.1Ω。 
3、镀层与电的阻值比＞104. 
4、测量点与描绘点之间误差＜1mm. 
5、实验值与理论值的相对误差＜5%。 
6、镀层的强度，经smc-1型强度试验仪，经过次磨擦试验，镀膜好无损。 
7、电源输出2v—10v连续可调。 
8、电源的内阻＜0.1Ω。 
9、电源调整率优于0.5%。 
10、三位半液晶显示。

LY-AD-107仪器是智能型超声波测厚仪，采用新的性能、低耗微处理器术，基于超声波测量原理，可以测量金属及其它多种材料的厚度，并可以对材料的声速行测量。可以对生产设备中各种管道和压力容器行厚度测量，监测它们在使用过程中受腐蚀后的减薄程度，也可以对各种板材和各种加零件作测量。本仪器可广泛应用于石油、化、冶金、船、航空、航天等各个域。

1. 显示方法：对比度的段码液晶显示，亮度EL背光；
2. 测量范围：0.75～300mm（钢中），公制与英制可选择；
3. 声速范围：1000～9999 m/s：
4. 分 辨 率：0.1mm ～0.01mm（可选）
5. 示值度： ±（0.5%H+0.04）mm H为被测物实际厚度
6. 测量周期：单点测量时4次/秒、扫描模式10次/秒；
7. 存储容量：可存储20组（每组多99个测量值）厚度测量数据。
8. 作电压：3V（2节AA尺寸碱性电池串联）
9. 持续作时间：约100小时（不开背光时）
10. 外形尺寸：150×74×32 mm
11. 整机重量：245g

1. 适合测量金属(如钢、铸铁、铝、铜等)、塑料、陶瓷、玻璃、玻璃纤维及其他何超声波的良导体的厚度；
2. 可配备多种不同频率、不同晶片尺寸的双晶探头使用；
3. 具有探头零点校准、两点校准能, 可对系统误差行自动修正；
4. 已知厚度可以反测声速，以提测量度；
5. 具有耦合状态提示能；
6. 有EL背光显示，方便在光线昏暗环境中使用；
7. 有剩余电量示能，可实时显示电池剩余电量；
8. 具有自动休眠、自动关机等节电能；
9. 小巧、便携、性，适用于恶劣的操作环境，抗振动、冲击和电磁干扰；

本超声波测厚仪对厚度的测量，是由探头产生超声波脉冲透过耦合剂到达被测体，分超声信号被物体底面反射，探头接收由被测体底面反射的回波，地计算超声波的往返时间，并按下式计算厚度值，再将计算结果显示出来。

式中：
H－测量厚度；
v－材料声速；
t－超声波在试件中往返次的传播时间。