SCI-2 分子筛堆积密度测定仪

SCI-2分子筛堆积密度测定仪， 分子筛松装密度仪，本仪器依据GB-T 6286-1986 分子筛堆积密度测定方法要求设计本标准适用于粒状分子筛松装密度和振实密度的测定。

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1.粉体、颗粒测试仪器系列：粉末流动性测试仪,堆密度仪,粉体综合特性测试仪,粉体屈服强度测试仪.粉体流变仪,粉末电阻率测试仪,休止角测定仪,安息角测定仪,松装密度测定仪,振实密度仪,斯柯特容量计,霍尔流速计,表观密度测定仪,颗粒强度测定仪.

2.导体/半导体/绝缘材料电性能测试系列：料表面/体积电阻率测试仪、四探针方阻/电阻率测试仪、高温电阻率测试系统、电压降测试仪.3.流变仪和粘度计系列；4.热分析仪器系列.

SCI-2分子筛堆积密度测定仪， 分子筛松装密度仪，本仪器依据GB-T 6286-1986 分子筛堆积密度测定方法要求设计本标准适用于粒状分子筛松装密度和振实密度的测定。

分子筛堆积密度测定仪

SCI-2分子筛堆积密度测定仪 SCl-2堆积密度测定仪
本仪器依据GB-T 6286-1986 分子筛堆积密度测定方法要求设计
本标准适用于粒状分子筛松装密度和振实密度的测定。
具体参数：
1. 振幅1～3mm
2. 频率100-200次/min
3. 量筒规格：100ML/300ML各一个
4. 计数器：0-9999可预设定。
5. 加料速度：3-5ML/S
6. 加料槽规格：85*45*20mm
7. 测定容器材质：不锈钢
8. 机箱材质：钣金烤漆
9. 电源：220V/50HZ
配件：容器：3个
电源线：1条
毛刷：一把

瑞柯仪器质量服务承诺：
1.质保期12个月，终生维护。
2.在质保期内，除人为因素外，任何因仪器设计、材料或工艺不当引起的缺陷、故障我们修理或更换。
3.接到用户通知所提供的仪器出现故障后，十分钟内回应.
4.保证及时向用户以惠的价格提供所需的备品备件和易损件


SCI-2分子筛堆积密度测定仪， 分子筛松装密度仪

测定步骤

4.1  松装密度的测定

4.1.1  调节测定仪贮存漏斗(2.1.1)的高度及加料器(2.1.2)的振动电压和斜度，使加料速度控制在3.5ml/s。

4.1.2  将备用试样(3.2)装入测定仪的贮存漏斗中，通过测定容器(2.1.3)上端套筒，加入容积为100ml的测定容器中。

注：粒径大于5mm的球形试样和条径大于3mm的条形试样，用容积为300ml的测定容器。

4.1.3  除去容器上端套筒，用直尺刮平高出容器的试样。

4.1.4  称量测定容器中的试样(准确至0.01g)。

4.2  振实密度的测定

4.2.1  调节测定仪(2.1)振击电压，使振动频率控制在140～160次/min。

4.2.2  将备用试样(3.2)取120ml，分三次，每次将取样量的l/3通过测定容器(2.1.3)上端套筒，倒入测定容器中。每倒一次，振击1000次，共振击3000次。

注：粒径大于5mm的球形试样和条径大于3mm的条形试样，取备用试样360ml。

4.2.3  除去容器上端套筒，用直尺刮平高出容器的试样。

4.2.1称量测定容器中的试样(准确至0.01g)。

4.3  测定试样的吸水量

4.3.1 即刻取测定堆积密度后的试样二份，每份10g左右，置于二只已称重(准确至0.01g)的瓷坩埚中。

4.3.2  将盛有试样的瓷坩埚放入箱式电阻炉(2.3)中，在550℃焙烧1h。

4.3.3  取出二只瓷坩埚，置于真空干燥器内，在空气压强小于1.0×10³Pa的条件F，冷却试样至室

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SCI-2分子筛堆积密度测定仪， 分子筛松装密度仪

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