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型号:ZH10226
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更新时间:2018-04-17
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| 变温霍尔效应实验仪 型号:ZH10226 |
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| 产品简介: 霍尔效应的测量是开展半导体研究的重要方法。本机利用计算机的数据采集和处理在80K-400K温度范围内对霍尔系数和电导率的联合测量,进行半导体导电机制及散射机制的研究,并可确定半导体的一些基本参数,如导电类型、载流子浓度、迁移率、禁带宽度以及杂质电离能等。 www.centrwin.com www.ghitest.com |
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