LK-HT188 小型制冷和制冷性能实验仪

1.小型制冷和制冷性能实验仪  型号：LK-HT188

由小型制冷试验机和制冷性能实验仪两分组成，可获得温度—时间响应特性，制冷量—温度特性，制冷系数和制冷效率并行热过程分析。

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概述
JG-ST2258A型多能数字式四探针测试仪是运用四探针测量原理的多用途综合测量装置，它可以测量片状、块状半导体材料的电阻率，扩散层的薄层电阻（亦称方块电阻）。换上四端子测试夹具，还可对电阻器体电阻、金属导体的低、中值电阻以及开关类接触电阻行测量。
本测试仪特赠设测试结果分类能，zui大分类10类
仪器所有参数设定、能转换采用数字化键盘输入；具有零位、满度自校能；自动转换量程；测试探头采用宝石导向轴套和耐磨碳化钨探针制成，故定位、游移率小、寿命长；测试结果由数字表头直接显示。
基本术参数
1. 测量范围、分辨率
电 阻： 1.0×10-3 ～ 200.0×103 Ω, 分辨率0.1×10-3 ～ 0.1×103 Ω
电 阻 率： 10.0×10-3 ～ 20.0×103 Ω-cm 分辨率0.1×10-3 ～ 0.1×103 Ω-cm
方块电阻： 10.0×10-3 ～ 20.0×103 Ω/□ 分辨率1.0×10-3 ～ 0.1×103 Ω/□
2. 可测半导体材料尺寸
直 径： 测试台直接测试方式 Φ15～130mm，其他方式不限.
长（或）度： 测试台直接测试方式 H≤160mm, 其他方式不限.
3. 量程划分及误差等
量程 200.0 20.00 2.000 200.0 20.00 2.000 200.0
kΩ-cm/□ Ω-cm/□ mΩ-cm/□
误差 ±0.5%FSB±1LSB（在各量程范围内），超量程或欠量程可测量，但误差将随超欠程度而变大

4) 作电源：220V±10％, f=50Hz±4％,PW≤5W
5) 外形尺寸：W×H×L=20cm×7.5cm×18cm
净 重：≤1kg

JGST-2253 型数字式四探针测试仪是运用四探针测量原理的多用途综合测量装置，它可以测量半导体材料的电阻率，测量扩散层的薄层电阻（亦称方阻）。换上特制的四探针测试夹具，还可以对金属导体的低、中值电阻行测量。
仪器由主机、测试探头（可选配测试台）等分组成，测试结果由主机数码管直接显示。也可连接PC机由配套软件在PC机上操作，其数据可由软件显示、分析、保存和打印！
主机主要由恒流源，分辨率 ADC、嵌入式单片机系统组成，自动转换量程。测试探头采用宝石导向轴套和耐磨碳化钨探针制成，故定位、游移率小、寿命长。仪器具有测量度、灵敏度、稳定性好、智能化程度、测量简便、结构紧凑、使用方便等特点。
仪器适用于半导体材料厂、半导体器件厂、科研单位、等院校对半导体材料的电阻性能的测试。特别适用于要求快速测量中低电阻率的场合。
三、基本术参数
3.1测量范围
电　阻率： 10-4～105Ω-cm
方块电阻： 10-3～106Ω/□
电　　阻：10-4～105Ω
3.2可测半导体材料尺寸
直 径： Φ15～100mm, 长（或）度： ≤400mm
2.3测量方位:
轴向、径向均可
2.4. 4 1/2 位数字电压表：
⑴量程： 200mV
⑵误差：±0.1%读数±2 字
2.5数控恒流源
⑴电流输出：直流电流 0～100mA 连续可调，由交流电源供电。
⑵量程：1μA，10μA，100µA，1mA，10mA，100mA
⑶误差：±0.5%读数±2 字
2.6四探针测试探头
⑴探针间距 1mm
(2)探针压力: 0～2kg 可调,zui大压力约 2kg
(3)探针：碳化钨，Φ0.5mm
2.7.电源
输入: AC 220V±10% ,50Hz 耗：<20W
2.8.外形尺寸：
主机 260mm（长）×210 mm（宽）×125mm（）

北京恒奥德仪器仪表有限公司

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