HQWWJ-60 无油无水静音空压机/用无油静音空压机

无油无水静音空压机/用无油静音空压机 型号：HQWWJ-60电压Volt/Hz ：220/50率Kw：0.55容积流量L/min(0.8Mpa)：40zui压力M

公司主营不锈钢采水器，罐底焊缝真空检测盒，八级空气微生物采样器，涂层测厚仪，土壤粉碎机，腐蚀率仪，凝固点测试仪，水质检测仪，涂层测厚仪，涂层测厚仪，土壤粉碎机，数显式温度计，气体采样泵，水质检测仪，PM2.5测试仪，牛奶体细胞检测仪，氦气浓度检测仪，土壤水分电导率测试仪，场强仪，毛细吸水时间测定仪，氧化还原电位计 测振仪，一氧化碳二氧化碳检测仪，黏泥含量测试仪，自动电位滴定仪，便携式测温仪，干簧管测试仪，电导率仪，水质分析仪，土壤氧化还原电位计，数字测温仪，便携式总磷测试仪，腐蚀率仪，余氯检测仪，颗粒强度测试仪，高斯计，自动涂膜机，雨量计，四合一气体分析仪，溶解氧仪，薄层铺板器，温度记录仪，动觉方位仪，菌落计数器，雨量计，毛细吸水时间测定仪，污泥比组测试仪，大气采样器，流速仪，体积电阻率测试仪，照度计，涂布机，老化仪。

北京恒奥德仪器仪表有限公司

联系方式：/5
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: 凡经理
地址 : 北京市海淀区阜城路42号院中裕商务花园6C-211
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邮箱 ：hadgs2009@163.com
网址 ：http://www..com。 http://www.had200911.cn
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2.手持式四探针测试仪/四探针检测仪 型号:HAD-3

概述
HAD-3型手持式四探针测试仪是运用四探针测量原理测试电阻率/方阻的多用途综合测量仪器。该仪器设计符合单晶硅物理测试方法标准并参考美 A.S.T.HAD 标准。
仪器成套组成：由HAD-3主机、选配的四探针探头等二分组成，也可加配测试台。
仪器所有参数设定、能转换采用轻触按键输入；具有零位、满度自校能；手动/自动转换量程可选；测试结果由数字表头直接显示。本测试仪采用可充电电池供电，适合手持式变动场合操作使用！
探头选配：根据不同材料特性需要，探头可有多款选配。有耐磨碳化钨探针探头，以测试硅类半导体、金属、导电塑料类等硬质材料的电阻率/方阻；也有形镀金铜合金探针探头，可测柔性材料导电薄膜、金属涂层或薄膜、陶瓷或玻璃等基底上导电膜（ITO膜）或纳米涂层等半导体材料的电阻率/方阻。换上四端子测试夹具，还可对电阻器体电阻、金属导体的低、中值电阻以及开关类接触电阻行测量。配专用探头，也可测试电池片等箔上涂层电阻率方阻。
详见《四探针探头特点与选型参考》点击入
仪器具有测量度、灵敏度、稳定性好、智能化程度、结构紧凑、使用简便等特点。
仪器适用于半导体材料厂、器件厂、科研单位、等院校对导体、半导体、类半导体材料的手持式导电性能的测试。
三、基本术参数
1. 测量范围、分辨率
电 阻： 0.010 ～ 50.00kΩ, 分辨率0.001 ～ 10 Ω
电 阻 率： 0.010～ 20.00kΩ-cHAD， 分辨率0.001 ～ 10 Ω-cHAD
方块电阻： 0.050～ 100.00kΩ/□ 分辨率0.001 ～ 10 Ω/□
2. 可测材料尺寸
手持方式不限材料尺寸，但加配测试台则由选配测试台决定如下：
直 径：HADT-A圆测试台直接测试方式 Φ15～130HADHAD。
HADT-C方测试台直接测试方式180HADHAD×180HADHAD。
长()度：测试台直接测试方式 H≤100HADHAD。.
测量方位: 轴向、径向均可.

量程划分及误差等

量程（Ω-cm/□）	2.000	20.00	200.0	2.000k	20.00k
电阻测试范围	0.010～2.200	2.000～22.00	20.00～220.0	0.200～2.200k	2.000～50.00k
电阻率/方阻	0.010/0.050～2.200	2.000～22.00	20.00～220.0	0.200～2.200k	2.000～20.00k/100.0k
基本误差	±1%FSB±2LSB			±2%FSB±2LSB

4) 适配器作电源：220V±10％, f=50Hz±4％,P_W≤5W，或电池供电

5) 外形尺寸：W×H×L=10cm×3.6cm×21cm

净 重：≤0.3kg








3.多能数字式四探针测试仪/台式四探针电阻率测试仪 型号:HAD-2258C

概述
HAD-2258C型多能数字式四探针测试仪是运用四探针测量原理测试电阻率/方阻的多用途综合测量仪器。该仪器设计符合GB/T 《硅、锗单晶电阻率测定直流四探针法》并参考美 A.S.T.M 标准。
仪器成套组成：由主机、选配的四探针探头、测试台等分组成。
主机主要由恒流源、分辨率ADC、嵌入式单片机系统组成。仪器所有参数设定、能转换采用数字化键盘输入；具有零位、满度自校能；电压电流自动转换量程；测试结果由数字表头直接显示。本测试仪特赠设测试结果分类能，zui大分类10类。
探头选配：根据不同材料特性需要，探头可有多款选配。有耐磨碳化钨探针探头，以测试硅类半导体、金属、导电塑料类等硬质材料的电阻率/方阻；也有形镀金铜合金探针探头，可测柔性材料导电薄膜、金属涂层或薄膜、陶瓷或玻璃等基底上导电膜（ITO膜）或纳米涂层等半导体材料的电阻率/方阻。换上四端子测试夹具，还可对电阻器体电阻、金属导体的低、中值电阻以及开关类接触电阻行测量。配专用探头，也可测试电池片等箔上涂层电阻率方阻。
测试台选配：般四探针法测试电阻率/方阻配HAD-T-A或HAD-T-B或HAD-T-C或HAD-T-F型测试台。二探针法测试电阻率测试选HAD-T-K型测试台，也可选配HAD-T-D型测试台以测试半导体粉末电阻率，选配HAD-T-G型测试台测试橡塑材料电阻率。详见《四探针仪器、探头和测试台的特点与选型参考》
仪器具有测量度、灵敏度、稳定性好、智能化程度、结构紧凑、使用简便等特点。
仪器适用于半导体材料厂器件厂、科研单位、等院校对导体、半导体、类半导体材料的导电性能的测试。
三、基本术参数
1. 测量范围、分辨率（括号内为可向下拓展1个数量）
电 阻：10.0×10-6 ～ 200.0×103 Ω, 分辨率1.0×10-6 ～ 0.1×103 Ω
（1.0×10-6 ～ 20.00×103 Ω, 分辨率0.1×10-6 ～ 0.01×103 Ω）
电 阻 率：10.0×10-6 ～ 200.0×103 Ω-cm 分辨率1.0×10-6 ～ 0.1×103 Ω-cm
（1.0×10-6 ～ 20.00×103 Ω-cm 分辨率0.1×10-6 ～ 0.01×103 Ω-cm）
方块电阻：50.0×10-6 ～ 900.0×103 Ω/□ 分辨率5.0×10-6 ～ 0.5×103 Ω/□
（5.0×10-6 ～ 100.0×103 Ω/□ 分辨率0.5×10-6 ～ 0.1×103 Ω/□）
2. 材料尺寸(由选配测试台和测试方式决定)
直 径： HAD-T-A圆测试台直接测试方式 Φ15～130mm，手持方式不限
HAD-T-B/C/F方测试台直接测试方式180mm×180mm，手持方式不限.
长()度： 测试台直接测试方式 H≤100mm, 手持方式不限.
测量方位: 轴向、径向均可

量程划分及误差等

满度显示	200.0	20.00	2.000	200.0	20.00	2.000	200.0	20.00	2.000
常规量程	kΩ-cm/□	kΩ-cm/□		Ω-cm/□			mΩ-cm/□		---
zui大拓展量程	---	kΩ-cm/□		Ω-cm/□			mΩ-cm/□		mΩ-cm/□
基本误差	±2%FSB ±4LSB	±1.5%FSB ±4LSB	±0.5%FSB±2LSB				±0.5%FSB ±4LSB		±1.0%FSB ±4LSB

作电源：220V±10％, f=50Hz±4％,P_W≤5W

5．外形尺寸： 245mm（长）×220 mm（宽）×95mm（）

净 重：≤1.5～2.0kg

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