JH-WSP-25 四探针电阻率测试仪/四探针电阻率仪/四探针电阻率测定仪/电阻率测试仪

四探针电阻率测试仪/四探针电阻率仪/四探针电阻率测定仪/电阻率测试仪型号：JH-WSP-25

硅料分选检验综合仪是我公司款专门为拉单晶厂和多晶铸锭厂商硅料分选、检验、检测而设计研发的。它可以快速测量硅料的电阻率。可以检测所有类型的硅料：母合金掺杂济电阻率检测可以到0.0001-0.0999Ω﹡㎝，及各种碎片料、米粒料、片料，块料，头尾料、埚底料、边皮料等等。

四探针电阻率测试仪 产品特点：

■电阻率测量：大屏幕清晰显示硅料电阻率值，方便检料快速分选

■ 电流测量：本仪器采用芯片术，可通过调节硅材料厚度，仪器可直接锁定电流，使测量使用加简便，本仪器可根据需要配备测试平台， 利用测试平台可以测试薄片电阻率

■ 四探针：次测量，显示整电阻率值。

■ 采用了特的恒流源术，能够满足宽范围的电阻率测试要求

推荐作条件:

■ 温度：23±2℃

■ 湿度：60%~70%

■ 无强磁场、不与频设备邻近

四探针电阻率测试仪 术标:

　低阻电阻率量程：0.0001~0.0999Ω﹡㎝　

　低阻测量度：到千分位（即到小数点后四位）

注：低阻般用于测量低于0.1.0Ω﹡㎝以下硅料，如母合金，于0.1.0Ω﹡㎝

般用阻测量。

使用方法：

1， 接好电源线，将仪器接上220V交流电，供电，若无电则需要检查或换在仪器后面的电源插头处的保险丝，规格为1A,或检查电源线是否插好。

2，面板数显表测量时显示为电阻率值，按键调节开关调节硅材料厚度，硅材料厚度小于3.98mm按实际厚度对照厚度调节按钮调节，如2.18就调到218，厚度大于3.98的都调到3。98，厚度调好后选择阻或低阻可直接测试即可

测量电阻率：

1校厚：）四探针针头压住待测样片，根据所测硅料厚度调动按钮至所要求厚度，

测试四探针笔：

1般情况下，换钢针之类，不需要拆开探头，只需要用拔出要换的钢针，再重新安装新针，如果断针在孔内并且不拆开难以取出，须按照以下步骤行操作：

A松开笔身尾端侧面的固定小螺丝，轻轻脱下尾航空插口，探针头旋转时同步旋转，防止扭线断线，短接，

B轻轻拧开探针头子，然后小心将铜片拉出，记住七片缘片与铜片之间的位置，（四片铜片每片见夹片缘片，两边的铜片外侧各两片），将断针从铜片卡口座里取下即可，

C特别注意定不能将铜片取下时的位置错乱，铜片位置按照航空头四芯1234接线绿红黄黑的顺序字排列，并且铜片之间按照宽窄顺序互相交叉排列，以免短接。

D安装时铜片及缘片按照拆下时的排列轻轻塞探针头子，并将探针头子拧紧，再将尾航空头插上，并且旋紧小螺丝，

E将针装好，注意针头针尾方向，尖头为探针头

注意事项：

1仪器操作前请您仔细阅读使用说明书，规范操作。

2轻拿轻放，避免仪器震动，水平放置，垂直测量，

3仪器不使用时请切断电源，连接线无需经常拔下，避免灰尘入航空插引起短接等现象，

4探针笔测试结束，套好护套，避免人为断针，