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NanoCalc 膜厚测量仪

北京锦坤科技有限公司
会员指数: 企业认证:

价格:电议

所在地:北京

型号:NanoCalc

更新时间:2013-11-25

浏览次数:1251

公司地址:北京市海淀区农大南路硅谷亮城

周成秋(先生)  

产品简介

本膜厚测量仪适用于nm及um级薄膜厚度测量,测量的空间分辨率(测量点的大小)可达10um,厚度测量准确度为nm级。此款膜厚测量仪适

公司简介

北京锦坤科技有限公司是致力于向客户提供精密、准确、稳定、可靠的光电产品和解决方案。 北京锦坤科技有限公司主要生产电光调制器,光相位调制器,空间光调制器,光纤延迟线,高速光开关,(AWG GHz),偏振分析仪等产品。公司技术方案及产品针对微波信号处理、光信号处理以及光电设备在工业、医学等方面的应用。服务行业和合作单位包括:军工研究及生产单位,通信及广电行业,激光工业及医疗应用,高等院校等。
    目前我公司已与多家世界厂商进行着密切的合作,并全权负责这些产品和方案在中国的市场开发、商务操作及售后服务,同时,我们也会根据用户的具体情况和需求,和生产厂商一起为用户制定完善的解决方案。
    公司由具备多年行业工作经验、熟悉行业应用并具备创业精神的技术人员、服务人员、营销人员组成,并配合行业内专家协会,积极开展并参加各种相关专业技术交流会、展会、咨询服务、培训、维护等活动。本公司秉承“服务为先,客户至上”的经营理念,坚持专业、周到、细致的服务,不断努力创新,努力为客户提供最优质的产品和服务。
 

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产品说明


膜厚测量仪适用于nm及um级薄膜厚度测量,测量的空间分辨率(测量点的大小)可达10um,厚度测量准确度为nm级。

此款膜厚测量仪适用于:
显示器、触摸屏、太阳能电池、R2R 光学镀膜等产业的薄膜厚度测量
光学材料参数测量、彩色滤光片色度及穿透率测量。(如:Oxide, Nitride,
ITO, RGB CF, PR, PI…@ Si, Glass, PET…等样品)
膜厚测量仪技术参数:
1.厚度测量范围:10 nm ~ 30 μm (采用Ocean Optics 光谱仪)
(Optional: up to 250 μm)
2.厚度测量重复性:< 1 nm @ 500 nm Oxide on Si
3.测量点大小 : Macro(~3 mm)
(Optional 选项加显微镜 : 10 μm – 3 mm)
4.测量时间:< 1 sec
5.其它功能:折射率(n)及消光系数(k)测量
反射率(R)及穿透率(T)测量
色度参数(x, y, Y, L*, a*, b*)测量
(Optional:在线检测、实时8-16 通道测量)
6. 机台尺寸:长宽高约31*27*30 (cm)。

联系地址:北京市海淀区农大南路硅谷亮城。
联系:,52494037。

本页产品地址:http://www.geilan.com/sell/show-2233087.html
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