XTY5129497 荧光 X-reg 射线镀层测量仪

荧光 X-reg 射线镀层测量仪采用Si（Li）半导体检测器，使之测量分辨率大大提高，弥补了用比例计数管检测时有些元素难以区分的不

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荧光 X-reg 射线镀层测量仪

采用Si（Li）半导体检测器，使之测量分辨率大大提高，弥补了用比例计
数管检测时有些元素难以区分的不足,配备有小型准直器,不仅可以进行元素分析，
也可测量镀层厚度，与薄膜FP法配合使用时，可以不使用标准样品，就可以进行元
素分析及镀层测量。标准配备有Windows2000中文操作界面,采用检量线法和FP法，
测量数据与Word和Excel链接，自动生成报告和数据处理，2个准直器可自动切换，
工作台 3 维电动，可编程进行自动测量。

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