矿石分析仪

手持式矿石分析仪
测量范围(Mg-U)
Mg,Al,Si,P,S,Cl,K,Ca,Sc,Ti,V,Cr,Mn,Fe,Co,Ni,Cu,Zn,As,Se,Rb,Sr,Zr,Nb,Mo,Pd,Ag,Cd,
Sn,Sb,Te,Cs,Ba,Hf,Ta,W,Re,Pt,Au,Hg,Pb,Bi,Th,U等。
 
测量矿种:各种金属、非金属、贵重金属和稀有金属矿
例如：铁矿、铜矿、锌矿、钛矿、钒矿、铬矿、锰矿、钴矿、镍矿、铅矿、钼矿、镁矿、铝矿、
银矿、金矿、铂矿、硫矿、砷矿、硒矿等
 
主要应用
主要分析矿体、矿块、矿粉、矿渣、精矿、粗矿、尾矿；
还可分析沉淀物、填料、土壤、泥土、泥浆；粉尘、灰尘、过滤物、薄膜层等。
对不规则或很小的样品都能快速完成识别测试。

主要特性：
 
简体中文界面
Windows Mobile5.0操作系统
开机后不需校准就可直接测量
采用布鲁克的XFlash®SDD检测器
分析元素zui小从Mg开始，达40多种。
分析范围：ppm级至50%以上（与矿样种类有关）
实时分析数据和图谱显示
XRF软件具有定性、定量分析功能，控制光管的电压和电流，使测量范围更广
测量完全无损，不受样品形状限制
仪器自动校准，自动存储测量数据，无需人工干预
主机一体化设计，高强度密封，防水、防尘，抗冲击
可选择一键式定时测量
内置Bruker专业操作软件，计算和显示速度快
仪器适应高温，低温，潮湿，雨天、沙尘等恶劣环境
在开机状态下长时间不测量时，仪器会自动进入待机状态，以节省电源和保护仪器
X射线管耐用性强，采用Peltier半导体恒温制冷技术更增加了使用寿命
选配GPS定位系统，可精确定位矿体位置并绘制矿脉分布图
万能FP模式，适于各种矿石样品，大大缩短现场工作时间。自动补偿元素间干扰。
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