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所在地：广东 东莞市
型号： uScan TMS-2000W-RC TMS-3000-WRC
更新时间：2011-12-31
浏览次数：1755
公司地址：东莞市南城区鸿福路200号第一国际C座812室
唐小姐(女士) 销售经理
Schmitt设计并制造了一系列高精度的表面测量及校准产品，产品涵盖了国内外多样化的市场需求。施密特的测量生产线由以下几个系列的产品组成，包括磁盘和晶圆测量工具，先进的表面分析散射仪。
型号详情：
μScan
产品优势：
― 便携式設計，輕巧方便
― 不受样品大小或環境限制
― 無需安裝，一插即用
― 操作简单，测量速度快
― 测量范围1Å ~1100Å
(粗糙度: Ra, RMS, P-V)
― 测量精确，分辨率高
― 體積小，容量大，自带内存可存储
700个数据，255個檔案
― 可程式設定合格/不合格標準
― 可附加軟件用於控制，分析和文件轉換
― 应用: 光学表面、高精密机械加工表面、半导体硅片、轧制及成型加工表面
技术参数：
测量范围: 粗糙度 (Ra, RMS, P-V) : 1Å up to 1100Å
反射率 (Reflectance) : 0.1 up to 100.0%
双向反射分布函数(BRDF) : 1e-6 to 1e0 (sr-1)
空间带宽: 上限 10 to 999 μm (可选)
下限 1.0 μm
测量时间: <5s
光斑尺寸: 1mm
重 复 性: ±0.5%
精 度: ±2% Reflectance
±3% Scatter
探测头波长: 670nm (1300nm可选)
TMS-2000WRC
产品优势：
― 非接触式,无损样品测试
― 粗糙度量程（Ra&RMS）0.2 Å~10,000 Å
― 可以径向、轴向、整体&区域扫描测试
― 价格低于同级别的轮廓仪、AFM及干涉仪
― 操作简单，测量速度快20～100点/秒
― 测量精度高，分辨率可达0.02Å
― 重复性可达±0.1 Å
― 提高产品质量检测的可控性
― 主要应用于晶圆测量单晶硅&SOI 等
技术参数：
光源: Class II Laser, 670 nm 光斑: ~1mm直径
范围: 0.2Å - 10,000Å (RMS 或 Ra) 分辨率: 0.02Å
可重复精度: ±0.1Å 再现精度: ±0.20 Å
测试点: 样品整体扫描到单点测试
速度: 每秒钟进行20~100次测量
测试参数: Ra or RMS (Rq) 微观粗糙度 P-V, RMS 倾斜, TIS, 漫反射率, 镜面反射率, 总反射率, R-C 率
空间滤波频率: (波长)
低波段: 0.026 到 0.129 um-1 (7.8 到 38 um)
高波段: 0.129 到 1.14 um-1 (0.88 到 7.8 um)
全波段: 0.026 到 1.14 um-1 (0.88 到 38 um)
Comp Band: 从 0.2到 150um 可选
微观粗糙度: 可以径向、轴向、整体&区域扫描测试
TMS-3000WRC
产品优势：
― 非接触式,无损样品测试
― 粗糙度量程（Ra&RMS）0.2 Å~10,000 Å
― 可以径向、轴向、整体&区域扫描测试
― 价格低于同级别的轮廓仪、AFM及干涉仪
― 操作简单，测量速度快20～100点/秒
― 测量精度高，分辨率可达0.02Å
― 重复性可达±0.1 Å
― 提高产品质量检测的可控性
― 主要应用于晶圆测量单晶硅&SOI 等
技术参数：
光源: Class II Laser, 670 nm 光斑: ~1mm 直径
测试点: 样品整体扫描到单点测试 速度: 每秒20~100次测量
范围: 0.2Å - 10,000Å (RMS或Ra) 分辨率: 0.02Å
可重复精度: ±0.10 Å 再现精度: ±0.20Å
测试参数: RA or RMS (Rq) 微观粗糙度 P-V, RMS 倾斜, TIS, 漫反射率,镜面反射率, 总反射率, R-C 率,
空间滤波频率: (波长)
低波段: 0.026 到 0.129 um-1 (7.8 到 38 um)
高波段: 0.129 到 1.14 um-1 (0.88到 7.8 um)
全波段: 0.026 到 1.14 um-1 (0.88到 38 um)
Comp Band: 从 0.2到 150um可选
微观粗糙度：可以径向、轴向、整体&区域扫描测试
免责声明：以上所展示的[ uScan TMS-2000W-RC TMS-3000-WRC Schmitt 光学粗糙度测试仪]信息由会员[东莞市岱美工业仪器服务有限公司]自行提供，内容的真实性、准确性和合法性由发布会员负责。
