高温试验目的

高温试验的目的是确定元件、设备或其他产品在高温环境下使用、运输或贮存的能力。高温试验能引发产品哪些故障

功能失效：系统宕机、重启、信号错误。

性能降级：运行速度变慢、输出功率下降、信号失真。

物理损坏：

塑料外壳软化、变形、熔化；

液晶显示屏变黑、出现残影；

电池鼓包、漏液，甚至有起火风险；

 焊点融化或开裂；

元器件脱焊、损坏。

高温试验测试参数

高温试验应规定相应的试验温度和试验持续时间，试验温度和试验持续时间从下列数值中选取：

（1）试验温度：+30 ℃、+35 ℃、+40 ℃、+50 ℃、+55 ℃、+60 ℃、+65 ℃、+70 ℃、+85 ℃、+100 ℃、+125 ℃、+155 ℃、+175 ℃、+200 ℃、+250 ℃、+315 ℃、+400 ℃、+500 ℃、630 ℃、+800 ℃、+1000 ℃。

（2）持续时间：2 h、16 h、72 h、96 h、168 h、240 h、336 h、1000 h。

4、高温试验测试项目

(高温启动试验

受试产品在温度开始稳定后对受试产品进行通电工作并运行正常。

示例：受试产品在+50℃条件下稳定2小时后，上电工作2小时，试验箱恢复至常温+25℃保持1小时，试验期间的温度变化速率为1℃/min。

高温工作试验

受试产品在整个低温试验期间连续通电工作并运行正常。

示例：受试产品在+50℃条件下，连续通电工作运行4小时,试验期间的温度变化速率为1℃/min。

高温贮存试验

受试产品在试验期间不通电，试验结束后通电测试功能。

示例：受试产品在+50℃条件下，断电贮存24小时，试验期间的温度变化速率为1℃/min。

高温试验检测结果判定

试验期间或试验后，受试产品功能性能是否发生改变，受试产品外观是否发生异常。

高温试验基础标准

GB/T 2423.2《电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验B：高温》。

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