低温试验

低温试验目的：

低温试验目的用于确定元件、设备或其他产品在低温环境下使用、运输或贮存的环境适应性能力。通过该试验，可以发现产品在低温环境下可能出现的脆化、裂纹、变形、功能失效等问题，从而为产品的改进和优化提供依据。

低温试验能引发产品哪些故障

材料的硬化和脆化；

在对温度瞬变的响应中，不同材料产生不同程度的收缩，以及不同零部件的膨胀率不同，引起零部件相互咬死；

由于粘度增加,润滑油的润滑作用和流动性降低；

变压器和机电部件的性能改变；

破裂与龟裂、脆裂、冲击强度改变和强度降低；

低温试验核心参数

低温温度点、温度稳定时间、温度保持时间、温度变化速率。

低温试验项目及条件

 低温启动试验

受试产品在温度开始稳定后对受试产品进行通电工作并运行正常。

示例：受试产品在-30℃条件下稳定2小时后，上电工作2小时，试验箱恢复至常温+25℃保持1小时，试验期间的温度变化速率为1℃/min。

低温工作试验

受试产品在整个低温试验期间连续通电工作并运行正常。

示例：受试产品在-30℃条件下，连续通电工作运行4小时,试验期间的温度变化速率为1℃/min。

低温贮存试验

受试产品在试验期间不通电，试验结束后通电测试功能。

示例：受试产品在-30℃条件下，断电贮存24小时，试验期间的温度变化速率为1℃/min。低温试验检测结果判定

试验期间或试验后，受试产品功能性能是否发生改变，受试产品外观是否发生异常。

低温试验基础标准

GB/T 2423.1-2008《电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验A：低温》。

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