DP28967-2855 介电常数和介质损耗测试仪

产品/服务：DP28967-2855 介电常数和介质损耗测试仪
型号：DP28967-2855
品牌：亚欧
单价：面议
更新日期：2024-09-12
有效期至：长期有效
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产品简介

介电常数和介质损耗测试仪用途DP28967介电常数和介质损耗测试仪由Q表、测试装置，电感器及标准介质样品组成，能对绝缘材料进行介质损耗角正切值(tanδ)和介电常数(ε)的测试。...

产品详细介绍

介电常数和介质损耗测试仪 型号：DP28967-2855

介电常数和介质损耗测试仪用途

DP28967介电常数和介质损耗测试仪由Q表、测试装置，电感器及标准介质样品组成，能对绝缘材料进行介质损耗角正切值(tanδ)和介电常数(ε)的测试。DP28967介电常数和介质损耗测试仪工作频率范围是100kHz～100MHz,它能完成工作频率内材料的介质损耗角(tanδ)和介电常数(ε)变化的测试。

本仪器中测试装置是由平板电容器组成，平板电容器一般用来夹被测样品，配用Q表作为指示仪器。绝缘材料的损耗角正切值是通过被测样品放入平板电容器和不放样品的Q值变化和厚度的刻度读数通过公式计算得到。

2 介电常数和介质损耗测试仪主要技术指标：

2.1 tanδ和ε性能：

2.1.1 固体绝缘材料测试频率100kHz～100MHz的tanδ和ε变化的测试。

2.1.2 tanδ和ε测量范围：

tanδ：0.1～0.00005，ε：1～50

2.1.3 tanδ和ε测量精度（1MHz）：

tanδ：±5%±0.00005，ε：±5%

Q表

型号	DP28967-2851	DP28967-2852D	DP28967-2853D
工作频率范围	50kHz～50MHz 四位数显，压控振荡器	1kHz～70MHz 四位数显，数字合成精度：±50ppm	50kHz～160MHz 四位数显，数字合成精度：±50ppm
Q值测量范围	1～1000 指针，±1Q分辨率	1～1000 四位数显，±0.1Q分辨率	1～1000 四位数显，±0.1Q分辨率
可调电容范围	40～500 pF ΔC±3pF	40～500 pF ΔC±3pF	13～230 pF
电容测量误差	±1%±1pF	±1%±1pF	±1%±0.5pF
Q表残余电感值	约20nH	约20nH	约8nH

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DP28967-2855 介电常数和介质损耗测试仪

介电常数和介质损耗测试仪用途DP28967介电常数和介质损耗测试仪由Q表、测试装置，电感器及标准介质样品组成，能对绝缘材料进行介质损耗角正切值(tanδ)和介电常数(ε)的测试。...

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