数字式四探针测试仪/电阻率/方阻测试仪

数字式四探针测试仪/电阻率/方阻测试仪　型号：DP-2258C概述 DP-2258C型数字式四探针测试仪是运用四探针测量原理测...

 数字式四探针测试仪/电阻率/方阻测试仪　型号：DP-2258C

概述
      DP-2258C型数字式四探针测试仪是运用四探针测量原理测试电阻率/方阻的多用途综合测量仪器。该仪器设计符合GB/T 1551-2009 《硅单晶电阻率测定方法》、GB/T 1551-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流两探针法》、GB/T 1552-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流四探针法》并参考美 A.S.T.M 标准。 
      仪器成套组成：由主机、选配的四探针探头、测试台等部分组成。 
主机主要由恒流源、分辨率ADC、嵌入式单片机系统组成。仪器所有参数设定、功能转换全部采用数字化键盘输入；具有零位、满度自校功能；电压电流全自动转换量程；测试结果由数字表头直接显示。本测试仪赠设测试结果分类功能，zui大分类10类。 
      探头选配：根据不同材料性需要，探头可有多款选配。有耐磨碳化钨探针探头，以测试硅类半导体、金属、导电塑料类等硬质材料的电阻率/方阻；也有球形镀金铜合金探针探头，可测柔性材料导电薄膜、金属涂层或薄膜、陶瓷或玻璃等基底上导电膜（ITO膜）或纳米涂层等半导体材料的电阻率/方阻。换上四端子测试夹具，还可对电阻器体电阻、金属导体的低、中值电阻以及开关类接触电阻行测量。配用探头，也可测试电池片等箔上涂层电阻率方阻。 
      测试台选配：般四探针法测试电阻率/方阻配DP-A或DP-B或DP-C或DP-F型测试台。二探针法测试电阻率测试选DP-K型测试台，也可选配DP-D型测试台以测试半导体粉末电阻率，选配DP-G型测试台测试橡塑材料电阻率。详见《四探针仪器、探头和测试台的点与选型参考》 
仪器具有测量精度、灵敏度、稳定性好、智能化程度、结构紧凑、使用简便等点。 
仪器适用于半导体材料厂器件厂、科研单位、等院校对导体、半导体、类半导体材料的导电性能的测试。 
三、基本参数
1. 测量范围、分辨率（括号内为可向下拓展1个数量） 
    电    阻：10.0×10-6 ～ 200.0×103  Ω,    分辨率1.0×10-6 ～ 0.1×103  Ω 
               （1.0×10-6 ～ 20.00×103  Ω,    分辨率0.1×10-6 ～ 0.01×103 Ω） 
    电 阻 率：10.0×10-6 ～ 200.0×103 Ω-cm   分辨率1.0×10-6 ～ 0.1×103  Ω-cm 
               （1.0×10-6 ～ 20.00×103 Ω-cm  分辨率0.1×10-6 ～ 0.01×103 Ω-cm） 
    方块电阻：50.0×10-6 ～ 1.0×106 Ω/□    分辨率5.0×10-6 ～ 0.5×103  Ω/□  
               （5.0×10-6 ～ 100.0×103 Ω/□  分辨率0.5×10-6 ～ 0.1×103  Ω/□） 
2. 材料尺寸(由选配测试台和测试方式决定) 
    直    径： DP-A圆测试台直接测试方式 Φ15～130mm，手持方式不限 
    DP-B/C/F方测试台直接测试方式180mm×180mm，手持方式不限. 
     长()度：  测试台直接测试方式 H≤100mm,    手持方式不限. 
     测量方位:  轴向、径向均可 
3. 量程划分及误差等 
满度显示 200.0 20.00 2.000 200.0 20.00 2.000 200.0 20.00 2.000 
常规量程 kΩ-cm/□ kΩ-cm/□ Ω-cm/□ mΩ-cm/□ --- 
zui大拓展量程 --- kΩ-cm/□ Ω-cm/□ mΩ-cm/□ mΩ-cm/□ 
基本误差 ±2%FSB
±4LSB ±1.5%FSB
±4LSB ±0.5%FSB±2LSB ±0.5%FSB
±4LSB ±1.0%FSB
±4LSB

 
4.工作电源：220V±10％, f=50Hz±4％,PW≤5W 
5.外形尺寸： 245mm（长）×220 mm（宽）×95mm（）  
   净   重：≤1.5～2.0kg

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