x-ray膜厚测试仪Thick800A性能、、长期稳定性、快速的分析带来生产成本优化，测定元素厚度，优化的性能可满足广泛的元素测量....

x-ray膜厚测试仪Thick800A

x-ray膜厚测试仪Thick800A2000年前后,电子、通信行业的迅猛发展,带来电镀行业的广泛需求。应贸易和质量体系认证的需求,许多企业厂纷纷购置了相关的镀层厚度检测仪器和设备,同时也带来镀层膜厚量值传递和溯源问题。当然,有些外资企业,通过仪器自带的标准器直接溯源到外,而大分企业门,则处于自行封闭测量和不做量值溯源的状况,没有个明确的量值传递体系,镀层膜厚的量值处于种混乱的状态。

因此2005-2007年间经过购置相关测量设备和研制标准器及测量方法的研究，计量科学研究院建立了基于x射线荧光分析方法的镀层膜厚标准装置，用于镀层膜厚量值得测量和校准，为镀层膜厚量值的溯源提供了种准确有效的术方法。

x-ray膜厚测试仪Thick800A有:

1.性能、、长期稳定性、快速的分析带来生产成本优化，测定元素厚度，优化的性能可满足广泛的元素测量.

2.坚固耐用的设计：可靠近生产线或在实验室操作，生产人员易于使用.

3.简单的校准调试：在没有标准片时，经验系数法或基本参数法可以提供简单可靠的定量结果，方法建立只需几分钟，我们提供认证标准片以确保佳度，预置了多种校准参数.

仪器介绍
thick800a是天瑞集多年的经验，专门研发用于镀层行业的款仪器，可自动软件操作，可多点测试，由软件控制仪器的测试点，以及移动平台。是款能强大的仪器，配上专门为其开发的软件，在镀层行业中可谓大展身手。


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