x荧光测厚仪器
是天瑞集多年的经验，专门研发用于镀层行业的款仪器，能够有效分析PCB镀金厚度层检测，电镀厂镀镍镀铬厚度分析，五金镀锌测厚，铜镀银厚度分析等，仪器具有以下优点：

快速：1分钟就可以测定样品镀层的厚度，并达到测量度要求。

方便：X荧光光谱仪分机型采用口上的电制冷半导体探测器，能量分辨率更优于135eV，测试度更。并且不用液氮制冷，不用定期补充液氮，操作使用更加方便，并且运行成本比的其他产品更低。

无损：测试前后，样品无何形式的变化。

直观：实时谱图，可直观显示元素含量。

测试范围广：X荧光光谱仪，是种物理分析方法，其分析与样品的化学结合状态无关。对在化学性质上属同族的元素也能行分析,抽真空可以测试从Na到U。

可靠性：由于测试过程无人为因素干扰，仪器自身分析度、重复性与稳定性很。所以，其测量的可靠性更。

满足不同需求：测试软件为WINDOWS操作系统软件，操作方便、能强大，软件可监控仪器状态，设定仪器参数，并就有多种的分析方法，作曲线制作方法灵活多样，方便满足不同客户不同样品的测试需要。

：相比化学分析类仪器，X荧光光谱仪在总体使用成本上有的，可以让更多的企业和厂家接受。

对人员术要求较低，操作简单方便,并且维护简单方便，在镀层行业中可谓大展身手。

软件图片：

 

 

x荧光测厚仪器
术标

元素分析范围从硫(S)到铀（U）。
同时可以分析30种以上元素，五层镀层。
分析检出限可达2ppm，*薄可测试0.005μm。
分析含量般为ppm到99.9% 。
镀层厚度般在50μm以内（每种材料有所不同）
意多个可选择的分析和识别模型。
相互的基体效应校正模型。
多变量非线性回收程序
多次测量重复性可达0.1%
长期作稳定性可达0.1%
度适应范围为15℃至30℃。
电源: 交流220V±5V 建议配置交流净化稳压电源。
外观尺寸： 576(W)×495(D)×545(H) mm
样品室尺寸：500(W)×350(D)×140(H) mm
重量：90kg

配置

Si-Pin探测器。
信号检测电子电路。
低压电源。
X光管。
度传感器
保护传感器
计算机及喷墨打印机

应用：

，铂，银等贵金属和各种饰的含量检测.
金属镀层的厚度测量 电镀液和镀层含量的测定。
主要用于贵金属加和饰加行业；

银行，饰销售和检测机构；

电镀行业。

 x荧光测厚仪器    

   厂商：

        江苏天瑞仪器股份有限公司是具有知识的科企业，注册资本15392。旗下拥有北京邦鑫伟业术开发有限公司和深圳市天瑞仪器有限公司两家资子公司。总位于风景秀丽的江苏省昆山市阳澄湖畔。公司专业从事光谱、色谱、质谱等分析测试仪器及其软件的研发、生产和销售。