X荧光光谱仪的原理

X荧光光谱仪的构成

1. 入射狭缝 : 在入射光的照射下形成光谱仪 成像系统的物点。

2. 准直元件 : 使狭缝发出的光线变为平行光。该准直元件可以是一的透镜、反射镜、或直接集成在色散元件上，如凹面光栅光谱仪中的凹面光栅。

3. 色散元件 : 通常采用光栅，使光信号在空间上按波长分散成为多条光束。

4. 聚焦元件 : 聚焦色散后的光束，使其在焦平面上形成一系列入射狭缝的像，其中每一像点对应于一特定波长。

5. 探测器阵列：放置于焦平面，用于测量各波长像点的光强度。该探测器阵列可以是 CCD 阵列或其它种类的光探测器阵列。

8）自动待机：非传统的屏幕待机，内置运动感应器和射线管待机管理程序可在不使用时自动待机，拿起时迅速恢复工作。从而可减少关机次数并延长射线管使用寿命。

X荧光光谱仪性能特点

下照式：可满足各种形状样品的测试需求
准直器和滤光片：多种准直器和滤光片的电动切换，满足各种测试方式的应用
移动平台：精细的手动移动平台，方便定位测试点
高分辨率探测器：提高分析的准确性
新一代的高压电源和X光管：性能稳定可靠，高达50W的功率实现更高的测试效率

X荧光光谱仪应用领域

RoHS检测分析
地矿与合金（铜、不锈钢等）成分分析
金属镀层的厚度测量、电镀液和镀层含量的测定

，铂，银等贵金属和各种饰的含量检测