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F-650 多晶硅氧碳含量专用测试仪

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所在地：全国

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更新时间：2011-11-30

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产品简介

专用硅单晶/多晶中氧碳含量自动测量系统的氧碳含量技术参数符合(符合GB/T1557-2006)(符合GB/T1558-2009) 测试方法：把测

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专用硅单晶/多晶中氧碳含量自动测量系统的氧碳含量技术参数符合(符合国家GB/T1557-2006)(符合国家GB/T1558-2009)

测试方法：把测量样品用专用硅片固定架放入仪器样品室，开始测量，计算机读取1107CM-1,SI-O-SI带特征吸收峰和607CM-1, C-SI带特征吸收峰，由峰高法计算出硅单晶中氧碳含量. 测量硅片厚度：0.04-4.0MM, 硅片检测下限：1.0X1016CM-3(常温)

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